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VERFAHREN ZUM ÜBERPRÜFEN EINER QUALITÄT EINES WERKSTÜCKS SOWIE RECHENEINRICHTUNG

Patentnummer:EP3891467B1
IPC Hauptklasse:G01B21/30
Anmelder:SIEMENS AG (2)
Erfinder:HAGHANI ADEL (1)
Anmeldung:14.02.19
Patenterteilung:14.09.22
Einspruch bis:14.06.23

Abstract / Hauptanspruch
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Überprüfen einer Qualität eines Werkstücks (2) mit den Schritten: Empfangen eines bestimmten Messsignals, wobei zum Bestimmen des Messsignals zu vorbestimmten Zeitpunkten Messwerte, welche äußere Abmessungen des Werkstücks (2) beschreiben, entlang des Werkstücks (2) erfasst werden, Bereitstellen eines Referenz-Messsignals, wobei das Referenz-Messsignal ein Messsignal eines Referenz-Werkstücks beschreibt, Bestimmen eines Differenzsignals (D) anhand eines Unterschieds zwischen dem Messsignal und dem Referenz-Messsignal, wobei ein Frequenzspektrum des Differenzsignals (D) bestimmt wird, überprüft wird, ob zumindest eine vorbestimmte Schwingung (7) in dem Frequenzspektrum vorhanden ist und die Qualität des Werkstücks (2) anhand des Vorhandenseins der zumindest einen vorbestimmten Schwingung (7) überprüft wird, eine Mehrzahl von Frequenzbereichen vorgegeben wird, und für die Mehrzahl von Frequenzbereichen jeweils ein Frequenzspektrum des Differenzsignals (D) bestimmt wird und wobei ein Frequenzspektrum für das Referenz-Messsignal bestimmt wird und anhand des Frequenzspektrums für das Referenz-Messsignal für die jeweiligen Frequenzbereiche ein zulässiger Bereich bestimmt wird.


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