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SENSORSYSTEM

Patentnummer:EP3775787B1
IPC Hauptklasse:G01D5/353
Anmelder:LUNA INNOVATIONS GERMANY GMBH (1)
NKT PHOTONICS GMBH (1)
Cologne, DE
Erfinder:BREUER STEFAN (1)
HILL WIELAND (1)
MARX BENJAMIN (1)
RATH ALEXANDER (1)
Anmeldung:26.03.18
Patenterteilung:07.09.22
Einspruch bis:07.06.23

Abstract / Hauptanspruch
Ein Sensorsystem zum Erfassen und Lokalisieren von Änderungen in mindestens einer oder Werten für mindestens eine Umgebungsbedingung weist auf eine Quelle für Impulse elektromagnetischer Strahlung, wobei die Quelle konfiguriert ist, um elektromagnetische Strahlung mit einer Vielzahl von verschiedenen Wellenlängen zu emittieren, eine Glasfaser in optischer Verbindung mit der Quelle von Impulsen, wobei die Glasfaser ein oder mehrere Faser-Bragg-Gitter mit einem Reflexionsgrad und/oder Transmissionsgrad umfasst, der in Abhängigkeit von der mindestens einen Umgebungsbedingung variiert, und eine Erfassungseinheit zum Erfassen von elektromagnetischer Strahlung, die von mindestens einem der Faser-Bragg-Gitter reflektiert oder übertragen wurde, zu einer Vielzahl von verschiedenen Zeiten, wobei die Erfassungseinheit zum Erfassen elektromagnetischer Strahlung bei der Vielzahl von verschiedenen Wellenlängen konfiguriert ist, so dass eine Spektralempfindlichkeit für verschiedene räumliche Bereiche entlang der Glasfaser bestimmt werden kann, wobei eine Änderung in der oder ein Wert für die Umgebungsbedingung in einem räumlichen Bereich durch Überwachen der jeweiligen Spektralempfindlichkeit bestimmt werden kann.


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