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Robustes One-Shot-Interferometer und OCT- Verfahren, insbesondere zur Materialmessung und auch Tumorzellen-Erkennung

Patentnummer:EP2843360B1
IPC Hauptklasse:G01B11/30
Anmelder:UNIV STUTTGART (1)
Erfinder:KOERNER KLAUS (1)
KÖRNER KLAUS (1)
OSTEN WOLFGANG (1)
Anmeldung:03.09.14
Patenterteilung:11.05.22
Einspruch bis:11.02.23

Abstract / Hauptanspruch
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Anordnung zur robusten One-shot-Interferometrie, insbesondere zur optischen Kohärenz-Tomografie nach dem Spatial-domain-Ansatz (SD-OCT) und/oder nach dem Lichtfeld-Ansatz. Die Anordnung umfasst ein Interferometer mit Objekt- und Referenzarm und einen Detektor für elektromagnetische Strahlung. Im Referenzarm erfolgt entweder eine Voll- oder teilweise Retro-Reflexion mit Querversatz und/oder schwacher Defokussierung von Referenzlicht, wobei strukturierte oder konfokale Beleuchtung zur Anwendung kommt. Bei der Detektion wird eine Vielzahl räumlicher Interferogramme durch Überlagerung einer Objektwellenfront mit geneigter und/oder gekrümmter Referenzwellenfront für jeden Messpunkt gebildet. Die entstehenden räumlichen Interferogramme werden in einem einzigen Detektor-Frame detektiert und mittels Rechnerprogramm ausgewertet.


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