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VERFAHREN ZUR WANDSTÄRKENMESSUNG EINES HOHLGLASARTIKELS

Patentnummer:EP3772490B1
IPC Hauptklasse:G01B11/06
Anmelder:Heye International GmbH (1)
31683, Obernkirchen, DE
Erfinder:PÖRTNER DIRK (1)
Anmeldung:06.08.19
Patenterteilung:10.11.21
Einspruch bis:10.08.22

Abstract / Hauptanspruch
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Wandstärkemessung von Hohlglasartikeln (2) in einer Hohlglasproduktionsanlage, wobei die von jedem, am heißen Ende aus einer Glasformmaschine austretenden Hohlglasartikel (2) emittierte IR-Strahlung zumindest bereichsweise erfasst und durch eine Funktion (10) abgebildet wird, wobei der gleiche Hohlglasartikel (2) nach Durchlaufen eines Kühlofens in Umfangsrichtung hinsichtlich einer Wandstärkeverteilung vermessen und wobei die erfasste Wandstärkeverteilung durch eine Funktion (18) abgebildet wird. Unter Anwendung von Korrelationsverfahren wird geprüft, ob der Verlauf der Funktion (10) in der Funktion (18) enthalten ist, wobei bejahendenfalls den Messwerten der IR-Strahlung am heißen Ende Messwerte der Wandstärke zugeordnet werden können, so dass bereits am heißen Ende die Wandstärkeverteilung des Hohlglasartikels bekannt und zu Kontrollzwecken umsetzbar ist.


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