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REFLEKTIVITÄTSKARTENSCHÄTZUNG AUS PUNKTBASIERTEN STRUKTURIERTEN LICHTSYSTEMEN

Patentnummer:EP3491332B1
IPC Hauptklasse:G01B11/25
Anmelder:MICROSOFT TECHNOLOGY LICENSING LLC (1)
微软技术许可有限责任公司 (1)
Erfinder:BLEYER MICHAEL (2)
DEMANDOLX DENIS CLAUDE PIERRE (2)
PRICE RAYMOND KIRK (2)
ZHAO JIAN (2)
Anmeldung:27.07.16
Patenterteilung:10.11.21
Einspruch bis:10.08.22

Abstract / Hauptanspruch
Systems and methods are provided for determining a depth map and a reflectivity map from a structured light image. The depth map can be determined by capturing the structured light image and then using a triangulation method to determine a depth map based on the dots in the captured structured light image. The reflectivity map can be determined based on the depth map and based on performing additional analysis of the dots in the captured structured light image.


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