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MESSANORDNUNG ZUM VERMESSEN VON STRUKTUREN EINES MESSOBJEKTS

Patentnummer:EP3258207B1
IPC Hauptklasse:G01B21/20
Anmelder:SCHREINER GROUP GMBH & CO KG (1)
Erfinder:VIZJAK THOMAS (2)
Anmeldung:02.06.17
Patenterteilung:04.08.21
Einspruch bis:04.05.22

Abstract / Hauptanspruch
Eine Messanordnung (1) zum Vermessen von Strukturen eines Messobjekts (10) umfasst ein elektronisches Lineal (100) mit einem Messschlitten (110) und ein digitales Mikroskop (200), das an dem Messschlitten (110) des elektronischen Lineals (100) befestigt ist. Mittels eines Bildschirms (240) des digitalen Mikroskops können Strukturen (11, 12) des Messobjekts (10) sichtbar gemacht werden und die Messanordnung (1) kann mit hoher Präzision auf die Strukturen des Messobjekts (10) ausgerichtet werden. Mit der Messanordnung (1) lässt sich eine Vielzahl von Strukturen, beispielweise Abstände zwischen Kanten, grafische Elemente, Prägungen, Schlitzungen, Gravuren, auf unterschiedlichen Trägermaterialen, wie zum Beispiel Papier, Folien, Textilien, Stanzblechen, vermessen.


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