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Europäisches Patentamt

MESSUNG DER OXIDDICKE AUF ALUMINIUMOBERFLÄCHE DURCH FTIR-SPEKTROSKOPIE UND CHEMOMETRIEVERFAHREN | MESURE DE L'ÉPAISSEUR D'OXYDE SUR UNE SURFACE D'ALUMINIUM PAR SPECTROSCOPIE FTIR ET PROCÉDÉ CHIMIOMÉTRIQUE | MEASUREMENT OF OXIDE THICKNESS ON ALUMINUM SURFACE BY FTIR SPECTROSCOPY AND CHEMOMETRICS METHOD

Patentnummer:EP3488180B1
IPC Hauptklasse:G01B001106
Anmelder:
Erfinder:
Anmeldung:03.07.17
Offenlegung:21.07.16
Patenterteilung:16.06.21

Abstract / Hauptanspruch
The invention relates to a measurement method enabling on-line thickness measurement of the oxide layer formed on aluminum foil by FTIR spectrometer at low cost and precise manner, during aluminum-containing material production.

L'invention concerne un procédé de mesure qui permet de relever une mesure d'épaisseur en continu de la couche d'oxyde formée sur une feuille d'aluminium par un spectromètre FTIR à faible coût et de manière précise, pendant la production de matériau contenant de l'aluminium.

EP3488180B1


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