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ABTASTEINHEIT FÜR EINE WINKELMESSEINRICHTUNG | UNITÉ DE BALAYAGE POUR UN DISPOSITIF DE MESURE D'ANGLE | SAMPLING UNIT FOR AN ANGLE MEASURING DEVICE

Patentnummer:EP3683552B1
IPC Hauptklasse:G01D0005244
Anmelder:Dr. Johannes Heidenhain GmbH (14)
83301, Traunreut, DE
Erfinder:Funk, Christian (0)
Dipl.-Ing., 83229, Aschau, DE
Mitterer, Andreas (0)
Rosenegger, Gregor (0)
83278, Traunstein, DE
Strasser, Erich (1)
Sonnenleite 17, 83308 Trostberg, DE
Anmeldung:17.01.19
Patenterteilung:10.03.21
Einspruch bis:10.12.21

Abstract / Hauptanspruch
Die Erfindung betrifft eine Abtasteinheit zur Bestimmung einer relativen Winkelstellung einer um eine Achse (A) drehbaren Winkelskala (7). Die Abtasteinheit umfasst:
eine Leiterplatte (1), die eine erste Oberfläche (1.1) und eine zweite Oberfläche (1.2) aufweist,
zumindest eine Detektoranordnung (2), die so angeordnet ist, dass die der ersten Oberfläche (1.1) der Leiterplatte (1) gegenüber liegende Winkelskala (7) abtastbar ist,
eine Auswerteelektronik (3),
einen Gehäusekörper (5; 5') mit einem Boden (5.1), sich in Umfangsrichtung um die Achse (A) erstreckende Ausnehmungen (5.21, 5.22, 5.23, 5.24) und mit sich zwischen zwei Ausnehmungen (5.21, 5.22, 5.23, 5.24) in axialer Richtung erstreckenden Stegen (5.31, 5.32), so dass der Gehäusekörper (5; 5') axial biegeweich aber torsionssteif und radialsteif ist. Der Boden (5.1) ist axial zwischen den Ausnehmungen (5.21, 5.22, 5.23, 5.24) und der Leiterplatte (1) angeordnet. (Figur 4)


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