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Original-Dokument Europäisches Patentamt

VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR KALIBRIERUNG EINES MESSGERÄTES MITTELS PROJIZIERTER MUSTER MIT VIRTUELLER EBENE | DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE D'UN APPAREIL DE MESURE AU MOYEN D'UN MOTIF PROJETÉ COMPORTANT UN PLAN VIRTUEL | DEVICE AND METHOD FOR CALIBRATING A MEASURING APPARATUS BY MEANS OF PROJECTED PATTERNS USING A VIRTUAL PLANE

Patentnummer:	EP3571464B1
IPC Hauptklasse:	G01B001125
Anmelder:
Erfinder:	Engel, Thomas (0) Dr., 73432, Aalen, DE WISSMANN, Patrick (0) Einsteinstraße 179, 81677 München, DE
Anmeldung:	01.02.18
Offenlegung:	20.02.17
Patenterteilung:	30.12.20
Abstract / Hauptanspruch
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Kalibrierung eines Messgerätes zur Vermessung eines Messobjektes, das sich insbesondere entlang eines Bereichs in Metern im Raum erstreckt, mit einem das gesamte Messobjekt erfassenden Erfassungsbereich, wobei mittels eines Lichtprojektors verschiedene Kalibriermuster (Mi) in den Erfassungsbereich des Messgerätes auf eine reale ebene Wand oder reale ebene Fläche projiziert werden. Mittels einer Rechnereinrichtung wird die reale ebene Wand oder reale ebene Fläche mathematisch als ideal ebene Wand oder ideal ebene Fläche berechnet und diese für die Kalibrierung verwendet. The invention relates to a device and a method for calibrating a measuring apparatus for measuring a measurement object that extends especially over several meters in space, comprising a detection zone covering the entire measurement object. According to said method, various calibration patterns (Mi) are projected into the detection zone of the measuring apparatus onto a real even wall or a real even surface by means of a light projector. The real even wall or real even surface is mathematically calculated as the ideal even wall or ideal even surface by means of a computing device and the result of calculation is used for calibration. L'invention concerne un dispositif et un procédé d'étalonnage d'un appareil de mesure servant à mesurer un objet à mesurer, qui s'étend dans l'espace en particulier le long d'une zone en mètres, comprenant une zone de détection détectant l'ensemble de l'objet à mesurer. Selon l'invention, différents motifs d'étalonnage (Mi), sont projetés dans la zone de détection de l'appareil de mesure sur une paroi plane réelle ou une surface plane réelle au moyen d'un projecteur de lumière. Au moyen d'un dispositif de calcul, la paroi plane réelle ou la surface plane réelle est calculée mathématiquement en tant que paroi plane idéale ou surface plane idéale et celle-ci est utilisée pour l'étalonnage.