patentverein.de - Patente
Patentethik
Überwachung
Beispielhaft
Trivial
Kurios
Unverständlich

Warning: getimagesize(ueb_pdf/2020-11-01/EP_2729759_B1.gif): failed to open stream: No such file or directory in /www/htdocs/w01070a2/patentverein.de/htdocs/pat_functions.php on line 46
Zurück Original-Dokument
Europäisches Patentamt

VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG DER EFFEKTIVEN ZEMENTIERUNGS- ODER NITRIERUNGSTIEFE VON STAHLGETRIEBEN | APPAREIL ET PROCÉDÉ POUR DÉTERMINER LA PROFONDEUR EFFECTIVE D'UN DURCISSEMENT SUPERFICIEL OU NITRURATION D'ENGRENAGES D'ACIER | APPARATUS AND METHOD FOR DETERMINING THE EFFECTIVE CEMENTATION OR NITRIDING DEPTH OF STEEL GEARS

Patentnummer:EP2729759B1
IPC Hauptklasse:G01B001106
Anmelder:
Erfinder:
Anmeldung:04.07.12
Offenlegung:04.07.11
Patenterteilung:07.10.20

Abstract / Hauptanspruch
An apparatus (1) for determining the effective case-hardening or nitriding depth of a steel component comprises a measuring head (2), including a laser source (10) generating a variable frequency radiation for the scanning of pre-determined portions of the component to be measured (20); an infrared detector (16), configured so as to detect infrared radiation generated by the component to be measured; and computing means (17) of spectra of the infrared radiation received; and an evolventimeter (3), connected to the measuring head (2) and including first computing means (26, 40-56) suitable for computing a hardness profile of the component to be measured on the basis of a launch profile and spectra of the infrared radiation received and second computing means (26, 58) suitable for computing the effective case-hardening depth from the hardness profile computed.

Selon l'invention, un appareil (1) servant à déterminer la profondeur effective d'un durcissement superficiel ou nitruration d'un composant métallique comprend: une tête de mesure (2) munie d'une source laser (10) émettant un rayonnement de fréquence variable pour l'exploration de parties prédéterminées du composant à mesurer (20); un détecteur infrarouge (16) conçu pour détecter le rayonnement infrarouge émis par le composant à mesurer; des moyens de calcul (17) de spectres du rayonnement infrarouge reçu; et un évolumètre (3) relié à la tête de mesure (2) et comprenant de premiers moyens de calcul (26, 40-56) conçus pour calculer un profil de dureté du composant à mesurer sur la base d'un profil de lancement et des spectres du rayonnement infrarouge reçu, et de seconds moyens de calcul (26, 58) conçus pour calculer la profondeur effective du durcissement superficiel à partir du profil de dureté calculé.



Kommentare zu diesem Patent schicken Sie bitte an .
Datenschutzerklärung