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Europäisches Patentamt

EINSETZMECHANISMUS FÜR OPTISCHES MESSSYSTEM | MÉCANISME DE DÉPLOIEMENT POUR SYSTÈME DE MESURE OPTIQUE | DEPLOYMENT MECHANISM FOR OPTICAL MEASUREMENT SYSTEM

Patentnummer:EP3234682B1
IPC Hauptklasse:G01B001100
Anmelder:
Erfinder:
Anmeldung:23.11.15
Offenlegung:19.12.14
Patenterteilung:21.10.20

Abstract / Hauptanspruch
An optical measurement system includes an optical sensor assembly for measuring an object located beneath the optical sensor assembly. A deployment mechanism is pivotally connected relative to the optical sensor assembly that moves a secondary measurement aid, such as a touch sensor, between a deployed position and a retracted position. When in the retracted position, the secondary measurement aid does not inhibit movement of the optical sensor with respect to the object being measured.

L'invention concerne un système de mesure optique comprenant un ensemble capteur optique pour mesurer un objet situé au-dessous de l'ensemble capteur optique. Un mécanisme de déploiement est relié de manière pivotante par rapport à l'ensemble capteur optique et déplace un accessoire de mesure secondaire, tel qu'un capteur tactile, entre une position déployée et une position rétractée. Lorsqu'il se trouve dans la position rétractée, l'accessoire de mesure secondaire n'inhibe pas le mouvement du capteur optique par rapport à l'objet mesuré.



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