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Europäisches Patentamt

CALIBRATION OF A CONTACT PROBE | KALIBRIERUNG EINER KONTAKTSONDE | ÉTALONNAGE D'UNE SONDE DE CONTACT

Patentnummer:EP3014215B1
IPC Hauptklasse:G01B002104
Anmelder:
Erfinder:GRZESIAK, Jean-Louis (0)
5 Melrose Close; Yate, Bristol South Gloucestershire BS37 7AY, GB
Wallace, David Sven (0)
The Cowshed; Tinkley Lane, Nympsfield; Gloucestershire, GL10 3UH, GB
Anmeldung:26.06.14
Offenlegung:28.06.13
Patenterteilung:05.08.20

Abstract / Hauptanspruch
This invention concerns a method of calibrating a contact probe having a contact element. The method comprises measuring with the contact probe a first geometric property of a calibrated artefact (100, 200, 300, 400, 500) and a second geometric property of the or a further calibrated artefact (100, 200, 300, 400, 500). The first and second geometric properties are such that a deviation between a measured value and the expected value, resulting from a difference between an effective diameter of the contact element and an assumed diameter used for determining the measured value, has the opposite sign for each of the first and second geometric properties. The method further comprises identifying a difference in the effective diameter of the contact element from the assumed diameter comprising comparing deviations of the measured value to the expected value for each of the first and second geometric properties to determine whether there is a difference in the deviations.

La présente invention concerne un procédé d'étalonnage d'une sonde de contact possédant un élément de contact. Le procédé consiste à mesurer avec la sonde de contact une première propriété géométrique d'un artefact étalonné (100, 200, 300, 400, 500) et une seconde propriété géométrique de l'artefact étalonné (100, 200, 300, 400, 500) ou d'un autre artefact étalonné. Les première et seconde propriétés géométriques sont telles qu'un écart entre une valeur mesurée et la valeur attendue, résultant d'une différence entre un diamètre effectif de l'élément de contact et un diamètre supposé utilisé pour déterminer la valeur mesurée, est de signe opposé pour chacune des première et seconde propriétés géométriques. Le procédé consiste en outre à identifier une différence entre le diamètre effectif de l'élément de contact et le diamètre supposé en comparant des écarts entre la valeur mesurée et la valeur attendue pour chacune des première et seconde propriétés géométriques pour déterminer s'il existe une différence d'écart.

EP3014215B1


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