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Europäisches Patentamt

Fringe projection system for a probe with intensity modulating element suitable for phase-shift analysis, and intensity modulating element | Streifenprojektionssystem für eine Sonde mit Intensitätsmodulationselement, das für eine Phasenverschiebungsanalyse geeignet ist, und Intensitätsmodulationselement | Système de projection de franges pour sonde avec élément de modulation d'intensité convenant à l'analyse de déphasage, et élément de modulation d'intensité

Patentnummer:EP2520217B1
IPC Hauptklasse:G01B001125
Anmelder:
Erfinder:Bendall, Clark Alexander (0)
4914 Cornish Heights Parkway, Syracuse NY New York 13215, US
Anmeldung:02.05.12
Offenlegung:04.05.11
Patenterteilung:12.08.20

Abstract / Hauptanspruch
An intensity modulating element for a probe having a plurality of light emitters for phase-shift analysis and measurement is disclosed. The intensity modulating element comprises a plurality of columns of a plurality of grating elements formed by two opposing patterns to project a plurality of fringe sets comprising a structured light pattern.

EP2520217B1


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