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Europäisches Patentamt

GRATING FOR AN OPTICAL POSITION MEASURING DEVICE | GITTERSTRUKTUR FÜR EINE OPTISCHE POSITIONSMESSEINRICHTUNG | RESEAU POUR UN DISPOSITIF DE MESURE DE POSITION OPTIQUE

Patentnummer:EP3321641B1
IPC Hauptklasse:G01D000538
Anmelder:Dr. Johannes Heidenhain GmbH (0)
83301, Traunreut, DE
Erfinder:SPECKBACHER PETER (0)

Speckbacher, Peter (0)
Dr., 84558, Kirchweidach, DE
WEIDMANN JOSEF (0)

Weidmann, Josef (0)
Altenmarkt, DE
Anmeldung:27.10.17
Offenlegung:09.11.16
Patenterteilung:29.07.20

Abstract / Hauptanspruch
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Gitterstruktur für eine optische Positionsmesseinrichtung. Diese umfasst Teilungsbereiche, die mindestens eine Begrenzungslinie aufweisen, welche weder vollständig orthogonal noch vollständig parallel zu den beiden Koordinatenachsen eines orthogonalen Referenz-Koordinatensystems orientiert ist. Die Begrenzungslinie ist zumindest teilweise durch eine Treppenlinie approximiert, die aus aufeinanderfolgenden, orthogonal zueinander orientierten ersten und zweiten Treppenlinien-Abschnitten besteht, welche an Treppenstufen-Punkten aneinandergrenzen und parallel zu den beiden Koordinatenachsen des Referenz-Koordinatensystems orientiert sind. Hierbei ist die Treppenlinie zwischen zwei Approximations-Parallelen eingepasst, die in jeweils gleichem Abstand beidseitig benachbart zur Begrenzungslinie verlaufen, wobei die Treppenstufen-Punkte auf den Approximations-Parallelen liegen (FIG. 4).

EP3321641B1


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