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Europäisches Patentamt

Mikrometer | Micrometer

Patentnummer:DE102014217566B4
IPC Hauptklasse:G01B000318
Anmelder:Mitutoyo Corporation (0)
Kawasaki-shi, Kanagawa-ken, JP
Erfinder:Matsumiya, Sadayuki (0)
; c/o Mitutoyo Corporation, 20-1, Sakado 1-chome, ; Takatsu-ku, Kawasaki-shi, ; Kanagawa 213-0012, JP
Ohtani, Shigeru (0)
; c/o Mitutoyo Corporation, 20-1, Sakado 1-chome, ; Takatsu-ku, Kawasaki-shi, ; Kanagawa 213-0012, JP
Tsuji, Shozaburo (0)
Mitutoyo Corporation; 1-20-1, Sakado; Takatsu-ku, Kawasaki-shi; Kanagawa 213-8533, JP
Anmeldung:03.09.14
Offenlegung:05.09.13
Patenterteilung:12.03.20

Abstract / Hauptanspruch
Mikrometer, das ein Gestell mit einem Amboss an einem Ende und einer Spindel an dem anderen Ende aufweist, wobei sich die Spindel näher an den Amboss oder weiter von ihm weg bewegt, umfassend:
einen Wärmeabschirmdeckel, der das Gestell bedeckt,
wobei der Wärmeabschirmdeckel erste Antirutschteile aufweist, und
wobei die ersten Antirutschteile mit Abstand dazwischen in einer Bewegungsrichtung der Spindel angeordnet sind und der Abstand einer Messposition eines zu messenden Objekts in der Bewegungsrichtung der Spindel entspricht.

A micrometer having a frame with an anvil at one end and a spindle at the other end, the spindle moving closer to or further from the anvil, comprising:
a heat shield covering the frame,
wherein the heat shield has first anti-slip parts, and
wherein the first anti-slip parts are arranged at a distance therebetween in a direction of movement of the spindle and the distance corresponds to a measuring position of an object to be measured in the direction of movement of the spindle.

DE102014217566B4


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