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Europäisches Patentamt

MEASUREMENT SCALE COMPRISING A PERIODIC NANOSTRUCTURE | MESSSKALA MIT EINER PERIODISCHEN NANOSTRUKTUR | ÉCHELLE DE MESURE AVEC UNE NANOSTRUCTURE PÉRIODIQUE

Patentnummer:EP2946176B1
IPC Hauptklasse:G01D000534
Anmelder:
Erfinder:HENSHAW, James Reynolds (0)
1 Field Place, ; Paganhill, Stroud, ; Gloucestershire GL5 4BB, GB
WESTON, Nicholas John (0)
Monksford, ; 1 Edderston Road, ; Peebles, Peebleshire EH45 9DT, GB
Anmeldung:13.01.14
Offenlegung:15.01.13
Patenterteilung:11.03.20

Abstract / Hauptanspruch
A measurement scale device comprises at least one scale marking, wherein the or each scale marking comprises at least one periodic nanostructure that represents scale device information.

L'invention porte sur un dispositif d'échelle de mesure qui comprend au moins une graduation, la ou chaque graduation comprenant au moins une nanostructure périodique qui représente des informations de dispositif d'échelle.

EP2946176B1


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