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Europäisches Patentamt

Method for measuring an artefact

Patentnummer:US10591289B2
IPC Hauptklasse:G01B001114
Anmelder:
Erfinder:MCLEAN, Ian William (0)
74 Craiglockhart Road, Edinburgh; EH14 1EW, GB
Anmeldung:27.11.17
Offenlegung:13.07.15
Patenterteilung:17.03.20

Abstract / Hauptanspruch
A method of measuring at least one point on an artefact to be inspected that is located within a positioning apparatus' measurement volume, the method comprising, obtaining at least two images of the artefact obtained from different perspectives and, based on a given nominal location of a predetermined point to be measured within said positioning apparatus' measurement volume, determine the location of said predetermined point in each of the at least two images.

L'invention concerne un procédé de mesure d'au moins un point sur un artefact qui est situé à l'intérieur d'un volume de mesure d'appareil de positionnement, le procédé comprenant les étapes consistant à obtenir au moins deux images de l'artefact obtenues à partir de différentes perspectives et, sur la base d'un emplacement nominal donné d'un point prédéterminé à mesurer dans ledit volume de mesure d'appareil de positionnement, à déterminer l'emplacement dudit point prédéterminé dans chacune desdites au moins deux images.

US10591289B2


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