patentverein.de - Patente
Patentethik
Überwachung
Beispielhaft
Trivial
Kurios
Unverständlich
Zurück Original-Dokument
Europäisches Patentamt

Automatic parameterisation of a measuring system | Verfahren zur automatischen Parametrierung von Messsystemen | Paramétrage automatique d'un système de mesure

Patentnummer:EP1788347B2
IPC Hauptklasse:G01B001104
Anmelder:SICK AG (0)
79183, Waldkirch, DE
Erfinder:Kaltenbach, Thomas (0)
Mussbachstrasse 13, 79261 Gutach-Sieglau, DE
Anmeldung:26.09.06
Offenlegung:16.11.05
Patenterteilung:22.01.20

Abstract / Hauptanspruch
Verfahren zur automatischen Parametrierung von Meßsystemen zur Vermessung von mittels einer Transporteinrichtung transportierten Objekten, insbesondere Volumenmeßsystemen, bei dem von wenigstens einem Sensor für elektromagnetische Strahlung, insbesondere einem Laserscanner, wenigstens ein zumindest eindimensionales, Bildpunkte umfassendes Bild von einem hinsichtlich seiner Abmessungen dem Meßsystem bekannten, im Messbereich des Meßsystems befindlichen Testobjekt erfasst wird, und aus dem Bild und den bekannten Abmessungen des Testobjekts die zur Vermessung der Objekte notwendigen Systemparameter ermittelt werden.

EP1788347B2


Kommentare zu diesem Patent schicken Sie bitte an .
Datenschutzerklärung