patentverein.de - Patente
Patentethik
Überwachung
Beispielhaft
Trivial
Kurios
Unverständlich

Warning: getimagesize(ueb_pdf/2019-12-01/EP_2220456_B1.gif): failed to open stream: No such file or directory in /www/htdocs/w01070a2/patentverein.de/htdocs/pat_functions.php on line 46
Zurück Original-Dokument
Europäisches Patentamt

SURFACE SHAPE MEASURING SYSTEM AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD USING THE SAME | SYSTEM ZUR MESSUNG DER OBERFLÄCHENFORM UND VERFAHREN ZUR MESSUNG DER OBERFLÄCHENFORM DAMIT | SYSTÈME DE MESURE D'UNE FORME SUPERFICIELLE ET PROCÉDÉ DE MESURE D'UNE FORME SUPERFICIELLE UTILISANT LE SYSTÈME

Patentnummer:EP2220456B1
IPC Hauptklasse:G01B001124
Anmelder:
Erfinder:
Anmeldung:10.12.08
Offenlegung:14.12.07
Patenterteilung:20.11.19

Abstract / Hauptanspruch
The surface shape measuring system includes an illumination unit including a main light source, a focusing lens, and a projection lens; a beam splitter to split illumination light emitted respectively irradiated onto a reference surface and a measurement surface; a light detecting element to capture an interference pattern; and a control computer to obtain surface shape data through white-light interference pattern analysis from an image captured and detect whether or not the measurement surface is defective from the obtained data, wherein a subsidiary light source to provide falling illumination to the target object; and two-dimensional data and three-dimensional data regarding the surface shape of the target object are obtained by selectively intermitting the turning-on of the main light source and the subsidiary light source and the irradiation of the illumination light onto the reference surface.

Le système de mesure d'une forme superficielle comprend: un module d'illumination comprenant une source lumineuse principale, une lentille de focalisation et une lentille de projection; un diviseur de faisceau pour une lumière d'illumination émise et irradiée respectivement sur une surface de référence et une surface de mesure; un élément de détection de lumière pour capturer un moirage; et un ordinateur pilote pour acquérir des données de forme superficielle par analyse du moirage de la lumière blanche à partir d'une image capturée, et pour déterminer, à partir des données acquises, si la surface de mesure est défectueuse ou non. Une source lumineuse accessoire destinée à projeter une illumination sur un objet cible, et des données bidimensionnelles et des données tridimensionnelles concernant la forme superficielle de l'objet cible sont acquises par allumage intermittent sélectif de la source lumineuse principale et de la source lumineuse accessoire, et par irradiation de la lumière d'illumination sur la surface de référence.



Kommentare zu diesem Patent schicken Sie bitte an .
Datenschutzerklärung