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Europäisches Patentamt

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING SURFACES IN A HIGHLY PRECISE MANNER | VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR HOCHPRÄZISEN VERMESSUNG VON OBERFLÄCHEN | PROCÉDÉ ET DISPOSITIF PERMETTANT DE MESURER DES SURFACES DE MANIÈRE TRÈS PRÉCISE

Patentnummer:EP2673590B1
IPC Hauptklasse:G01B002104
Anmelder:
Erfinder:Am Weg, Christian (0)
Dr., 63225, Langen, DE
Berger, Gernot (0)
Dr., 44139, Dortmund, DE
May, Thilo (0)
64283, Darmstadt, DE
Nicolaus, Ralf (0)
Dr., 64293, Darmstadt, DE
Anmeldung:08.02.12
Offenlegung:11.02.11
Patenterteilung:02.10.19

Abstract / Hauptanspruch
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Vermessung zumindest eines Oberflächenabschnitts eines auf einem Träger (12) gelagerten Objekts (14), mit: zumindest einem gegenüber dem Träger (12) fixierbaren Referenzobjekt (18, 20) und einem in zumindest einer ersten Richtung (x, y) gegenüber dem Referenzobjekt (18, 20) beweglichen Halter (26), an welchem ein Referenzkörper (28) sowie ein Abstandsmesser (34, 36) angeordnet sind, die relativ zueinander drehbar gelagert sind, wobei der Abstandsmesser (34, 36) dazu ausgebildet ist, einen ersten Abstand (38) zu einem ersten Punkt (52) des Oberflächenabschnitts des Objekts (14) und einen zweiten Abstand (40) zu einem hiermit korrespondierenden zweiten Punkt (54) des Referenzkörpers (28) zu bestimmen.

The invention relates to a device and a method for measuring at least one surface section of an object (14) that is mounted on a carrier (12), comprising: at least one reference object (18, 20) that can be fixed relative to the carrier (12); and a holder (26) which can be moved relative to the reference object (18, 20) in at least one first direction (x, y) and on which a reference body (28) and a distance measuring device (34, 36) are arranged, said reference body and distance measuring device being mounted in a rotatable manner relative to each other. The distance measuring device (34, 36) is designed to determine a first distance (38) to a first point (52) of the surface section of the object (14) and a second distance (40) to a second point (54) of the reference body (28), said second point corresponding to the first point.

La présente invention concerne un dispositif et un procédé permettant de mesurer au moins une partie de la surface d'un objet (14) placé sur un support (12), ledit dispositif comportant au moins un objet de référence (18, 20) pouvant être fixé par rapport au support (12), ainsi qu'un dispositif de retenue (26) qui est mobile dans au moins une première direction (x, y) par rapport à l'objet de référence (18, 20) et sur lequel sont agencés un corps de référence (28) ainsi qu'un télémètre (34, 36) montés rotatifs l'un par rapport à l'autre. Le télémètre (34, 36) est conçu pour déterminer une première distance (38) à un premier point (52) de la partie de la surface de l'objet (14) et une seconde distance (40) à un second point (54) correspondant du corps de référence (28).



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