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Europäisches Patentamt

METHOD FOR ADJUSTING THE PARAMETERS OF A SENSOR | VERFAHREN ZUR PARAMETRIERUNG EINES SENSORS | PROCÉDÉ DE PARAMÉTRAGE D'UN CAPTEUR

Patentnummer:EP3425324B1
IPC Hauptklasse:G01B001100
Anmelder:SICK AG (0)
79183, Waldkirch, DE
Erfinder:
Anmeldung:04.07.17
Offenlegung:04.07.17
Patenterteilung:04.09.19

Abstract / Hauptanspruch
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur dynamischen Parametrierung zumindest eines Sensors in einem industriellen Prozess, bei welchem
- Messdaten des Prozesses mittels eines Konfigurationssensors und eines Produktivsensors erfasst werden, wobei der Konfigurationssensor und der Produktivsensor gleichartige Sensoren sind,
- die Messdaten an eine Steuereinheit übermittelt werden,
- die Steuereinheit anhand der Messdaten einen Parametersatz für den Produktivsensor generiert und den Parametersatz an den Produktivsensor übermittelt,
- der Produktivsensor den Parametersatz im Betrieb verwendet.



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