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Europäisches Patentamt

Verfahren und System zum Erfassen der Oberflächenbelegung einer Beschichtung auf einer Oberfläche eines bandförmigen Prüflings

Patentnummer:DE102018110931B3
IPC Hauptklasse:G01B001106
Anmelder:
Erfinder:
Anmeldung:07.05.18
Offenlegung:07.05.18
Patenterteilung:19.06.19

Abstract / Hauptanspruch
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Erfassen der Oberflächenbelegung einer Beschichtung auf einer Oberfläche eines bandförmigen Prüflings mit den Schritten, Bewegen des bandförmigen Prüflings in einer Vorschubrichtung und zeilenweises Erfassen eines Maßes für die Oberflächenbelegung der Beschichtung mit einem ersten Messverfahren, welches die Schritte umfasst, Beleuchten der Oberfläche des Prüflings mit elektromagnetischer Strahlung an einer Mehrzahl von Orten in einer sich im Wesentlichen senkrecht zu der Vorschubrichtung erstreckenden Zeile, Messen jeweils einer Intensität einer von der Beschichtung an den Orten in der Zeile reflektierten, zurückgestreuten oder abgestrahlten elektromagnetischen Strahlung mit einem Detektor und Bestimmen eines Maßes für die Oberflächenbelegung der Beschichtung an den Orten in der Zeile aus der von dem Detektor erfassten Intensität. Zur Verbesserung wird vorgeschlagen, dieses Verfahren dahingehend auszugestalten, dass es zusätzlich die Schritte aufweist, Ausführen einer Kalibrierungsmessung an einem Ort der Zeile mit einem von dem ersten Messverfahren verschiedenen zweiten Messverfahren, wobei das zweite Messverfahren derart ausgestaltet ist, dass es ein Maß für die Oberflächenbelegung der Beschichtung an dem Ort in der Zeile erfasst und Kalibrieren des durch das erste Messverfahren bestimmten Maßes für die Oberflächenbelegung der Beschichtung auf der Grundlage des von dem zweiten Messverfahren erfassten Maßes für die Oberflächenbelegung der Beschichtung.

DE102018110931B3


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