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Europäisches Patentamt

MEASURING INSTRUMENT AND METHOD FOR DETERMINATION OF THE PROPERTIES OF AN ITEM AND ITS SURFACE | MESSINSTRUMENT UND VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG DER EIGENSCHAFTEN EINES ARTIKELS UND SEINER OBERFLÄCHE | INSTRUMENT DE MESURE ET PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION DES PROPRIÉTÉS D'UN ARTICLE ET DE SA SURFACE

Patentnummer:EP2486392B1
IPC Hauptklasse:G01B001106
Anmelder:
Erfinder:
Anmeldung:07.10.10
Offenlegung:08.10.09
Patenterteilung:05.06.19

Abstract / Hauptanspruch
A measurement device for the determination of the characteristics of the object's surface by means of the optical radiation, wherein a measurement device comprises an optical radiation source and a detector to receive the radiation reflected from the surface being measured. In addition, a measurement device comprises an emitted optical radiation processing unit, which is adjusted to split optical radiation emitted by an optical source into separate wavelengths and to direct said separate wavelengths to the object being measured in a direction, that differs from the normal of the surface being measured so, that at least the shortest and the longest wavelengths of said wavelengths are focused on different halves and different heights of the measured object's surface, in the direction of the normal of the surface being measured. In addition, a measurement device comprises a reflected optical radiation processing unit, which is adjusted to receive an optical radiation reflected from the measured object at least in the direction of a specular reflection, which differs from the normal of the surface being measured, and to direct received optical radiation to said detector. Still further, the measurement device is adjusted to analyze an electric signal produced by the detector and proportional to the intensity of the radiation focused thereto, and to further determine a surface gloss (gloss degree) and/or thickness characteristic property of the measured object, based on the intensity of its wavelength, the focus point of which was located on the measured surface, and which wavelength was the strongest reflected from that point to the detector in the specular geometry.

La présente invention concerne un dispositif de mesure servant à déterminer les caractéristiques de la surface d'un objet à l'aide d'un rayonnement optique, ledit dispositif de mesure comprenant une source de rayonnement optique et un détecteur destiné à recevoir le rayonnement réfléchi par la surface qui est mesurée. En plus, ce dispositif de mesure comporte une unité de traitement de rayonnement optique émis qui est réglée pour séparer le rayonnement optique émis par une source optique en différentes longueurs d'onde et pour diriger ces différentes longueurs d'onde vers l'objet mesuré dans une direction qui diffère de la normale de la surface mesurée, de manière à ce qu'au moins la longueur d'onde la plus courte et la longueur d'onde la plus grande parmi lesdites longueurs d'onde soient concentrées sur des moitiés et des hauteurs différentes de la surface de l'objet mesuré dans la direction de la normale de la surface mesurée. En outre, le dispositif de mesure comprend une unité de traitement de rayonnement optique réfléchi qui est réglée pour recevoir un rayonnement optique réfléchi par l'objet mesuré au moins dans la direction d'une réflexion spéculaire, qui diffère de la normale de la surface mesurée, et pour diriger le rayonnement optique reçu vers ledit détecteur. De plus, le dispositif de mesure est réglé pour analyser un signal électrique produit par le détecteur et proportionnel à l'intensité du rayonnement concentré sur ce dernier, et pour déterminer en outre un brillant de surface (degré de brillant) et/ou une propriété caractéristique d'épaisseur de l'objet mesuré sur la base de l'intensité de sa longueur d'onde. Le point focal de cette longueur d'onde était situé sur la surface mesurée, et cette longueur d'onde était la longueur d'onde la plus forte réfléchie par ce point vers le détecteur en géométrie spéculaire.

EP2486392B1


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