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METHOD AND DEVICE FOR MEASURING A LONG PROFILE | VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM VERMESSEN EINES LANGPROFILES | PROCÉDÉ ET DISPOSITIF POUR MESURER UN PROFILÉ LONGITUDINAL

Patentnummer:EP3274651B1
IPC Hauptklasse:G01B001125
Anmelder:
Erfinder:
Anmeldung:23.03.16
Offenlegung:24.03.15
Patenterteilung:12.06.19

Abstract / Hauptanspruch
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Vermessen eines insbesondere auf einer erhöhten Temperatur befindlichen Langprofiles (2), wobei ein Querschnitt des Langprofiles (2) festgestellt wird, wobei das Langprofil (2) mit einem verschiebbar an einer Schwenkvorrichtung (3) gelagerten Lichtschnittsensor (4) vermessen wird. Weiter betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zum Vermessen eines insbesondere auf einer erhöhten Temperatur befindlichen Langprofiles (2), umfassend eine Messeinrichtung zur Feststellung eines Querschnittes des Langprofiles (2), wobei eine Schwenkvorrichtung (3) vorgesehen ist und die Messeinrichtung als Lichtschnittsensor (4) ausgebildet ist, wobei der Lichtschnittsensor (4) verschiebbar an der Schwenkvorrichtung (3) gelagert ist. Des Weiteren betrifft die Erfindung eine Verwendung einer solchen Vorrichtung (1).

The invention relates to a method for measuring a long profile (2), in particular one at an increased temperature, wherein a cross-section of the long profile (2) is determined, wherein the long profile (2) is measured using a light section sensor (4) that is moveably mounted on a swivel device (3). The invention also relates to a device for measuring a long profile (2), in particular one at an increased temperature, comprising a measuring device for determining a cross-section of the long profile (2), wherein a swivel device (3) is provided and the measuring device is formed as a light section sensor (4), wherein the light section sensor (4) is moveably mounted on the swivel device (3). The invention further relates to a use of a device (1) of this type.

L'invention concerne un procédé pour mesurer un profilé longitudinal (2) se trouvant notamment à une température élevée, une section transversale du profilé longitudinal (2) étant détectée et le profilé longitudinal (2) étant mesuré au moyen d'un capteur de coupe optique (4) logé coulissant sur un dispositif de pivotement (3). L'invention concerne également un dispositif pour mesurer un profilé longitudinal (2) se trouvant notamment à une température élevée, comportant un système de mesure pour détecter une section transversale du profilé longitudinal (2), un dispositif de pivotement (3) étant prévu et le dispositif de mesure étant conçu en tant que capteur de coupe optique (4). Le capteur de coupe optique (4) est logé coulissant sur le dispositif de pivotement (3). L'invention concerne également une utilisation d'un tel dispositif (1).

EP3274651B1


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