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Anmelder = JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
US10760891B2
01.09.20 (21)
Surface measuring apparatus
JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH
DE102005018919B4
10.12.20 (122)
Meßgerät zur Abtastung einer Oberflächenkontur eines Werkstücks | Measuring device for scanning a surface contour of a workpiece
JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH
DE102017131466B4
31.12.20 (142)
Etalon-Stufenwelle und Verfahren zum Kalibrieren optischer Messeinrichtungen | Etalon step wave and method for calibrating optical measuring devices
JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH
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DE102017131465B4
28.01.21 (170)
Kalibrierkörper und Verfahren zum Kalibrieren optischer Messeinrichtungen zum Messen rotierbarer Werkstücke
JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH
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