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Anmelder = Yokogawa Electric Corporation


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
EP3660448B1
14.04.21 (162)
DICKENMESSVORRICHTUNG, DICKENMESSVERFAHREN UND DICKENMESSPROGRAMM | APPAREIL DE MESURE D'ÉPAISSEUR, PROCÉDÉ DE MESURE D'ÉPAISSEUR ET PROGRAMME DE MESURE D'ÉPAISSEUR | THICKNESS MEASUREMENT APPARATUS, THICKNESS MEASUREMENT METHOD, AND THICKNESS MEASUREMENT PROGRAM
Yokogawa Electric Corporation
US10982949B2
20.04.21 (168)
Measurement apparatus, measurement method, and computer readable medium
Yokogawa Electric Corporation
EP3640603B1
16.06.21 (223)
VORRICHTUNG ZUR MESSUNG DER CHARAKTERISTIK VON OPTISCHEN FASERN UND VERFAHREN ZUR MESSUNG DER CHARAKTERISTIK VON OPTISCHEN FASERN | DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE MESURE DE CARACTÉRISTIQUE DE FIBRE OPTIQUE | OPTICAL FIBER CHARACTERISTIC MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL FIBER CHARACTERISTIC MEASUREMENT METHOD
Yokogawa Electric Corporation
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