Patentschrift
Erteilung (Frist) |
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel) |
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EP2570776B1
13.03.19 (5) |
Inductive Detection Encoder and Digital Micrometer | Induktiver Erkennungskodierer und digitales Mikrometer | Codeur de détection inductive et micromètre numérique
Mitutoyo Corporation
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DE102014218642B4
14.03.19 (6) |
Verfahren zum Betreiben einer Koordinatenmessvorrichtung
Mitutoyo Corporation
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US10234310B2
19.03.19 (11) |
Light-emitting unit, light-emitting and light-receiving unit and photoelectric encoder
Mitutoyo Corporation
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EP3182052B1
20.03.19 (12) |
MEASUREMENT DEVICE WITH MULTIPLEXED POSITION SIGNALS | MESSVORRICHTUNG MIT GEMULTIPLEXTEN POSITIONSSIGNALEN | DISPOSITIF DE MESURE AVEC SIGNAUX DE POSITION MULTIPLEXÉS
Mitutoyo Corporation
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DE102014222056B4
21.03.19 (13) |
Optische Anordnung für strukturierte Beleuchtungsmikroskopie mit Projektionsartefakt-Unterdrückungselement
Mitutoyo Corporation
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EP3336484B1
27.03.19 (19) |
TOUCH PROBE FOR CMM INCLUDING DIGITAL SIGNAL COMMUNICATION | TASTKOPF FÜR KOORDINATENMESSMASCHINE MIT DIGITALSIGNALKOMMUNIKATION | SONDE DE CONTACT POUR UNE MACHINE DE MESURE DE COORDONNÉES COMPRENANT UNE COMMUNICATION DE SIGNAUX NUMÉRIQUES
Mitutoyo Corporation
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EP2325597B1
03.04.19 (26) |
Non-contact optical probe and measuring machine | Kontaktlose optische Sonde und Messmaschine | Sonde optique sans contact et machine de mesure
Mitutoyo Corporation
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US10254137B2
09.04.19 (32) |
Photoelectric encoder for deconcentrating calculation load and reducing power consumption and measuring instrument including thereof
Mitutoyo Corporation
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US10254113B2
09.04.19 (32) |
Inspection program editing environment providing user defined collision avoidance volumes
Mitutoyo Corporation
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EP1726919B1
10.04.19 (33) |
Method and apparatus for generating an origin signal of an encoder | Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung eines Quellensignals eines Kodierers | Procédé et appareil générant un signal provenant d'un encodeur
Mitutoyo Corporation
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US10260853B2
16.04.19 (39) |
Linear gage
Mitutoyo Corporation
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DE10016070B4
18.04.19 (41) |
Bewegungssteuervorrichtung einer Schwingsonde eines Kontakttyps
Mitutoyo Corporation
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EP2738515B1
24.04.19 (47) |
Measuring system, method and computer program product | Messvorrichtung, Verfahren und Computerprogrammprodukt | Dispositif de mesure, procédé et produit de programme informatique
Mitutoyo Corporation
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EP2597431B1
24.04.19 (47) |
Scale of photoelectric encoder and manufacturing method of the same | Skala für einen photoelektrischen Codierer und Herstellungsverfahren dafür | Échelle de codeur photoélectrique et son procédé de fabrication
Mitutoyo Corporation
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US10274344B2
30.04.19 (53) |
Displacement encoder
Mitutoyo Corporation
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US10274313B2
30.04.19 (53) |
Measurement method and measurement program for calculating roughness of a curved surface
Mitutoyo Corporation
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EP3260811B1
01.05.19 (55) |
METHOD FOR OPERATING A COORDINATE MEASURING MACHINE | VERFAHREN ZUM BETRIEB EINER KOORDINATENMESSMASCHINE | PROCÉDÉ DE FONCTIONNEMENT D'UNE MACHINE DE MESURE DE COORDONNÉES
Mitutoyo Corporation
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EP1729097B1
08.05.19 (62) |
PHOTOELECTRIC ENCODER | FOTOELEKTRISCHER CODIERER | CODEUR PHOTO ELECTRIQUE
Mitutoyo Corporation
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DE10242027B4
09.05.19 (63) |
Fotoelektrischer Kodierer
Mitutoyo Corporation
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US10288402B2
14.05.19 (68) |
Industrial machine
Mitutoyo Corporation
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US10295648B2
21.05.19 (75) |
Contamination and defect resistant optical encoder configuration including a normal of readhead plane at a non-zero pitch angle relative to measuring axis for providing displacement signals
Mitutoyo Corporation
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US10295378B2
21.05.19 (75) |
Contamination and defect resistant optical encoder configuration outputting structured illumination to a scale plane for providing displacement signals
Mitutoyo Corporation
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US10295337B2
21.05.19 (75) |
Surface texture measuring apparatus
Mitutoyo Corporation
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US10295324B2
21.05.19 (75) |
Measuring instrument
Mitutoyo Corporation
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US10302930B2
28.05.19 (82) |
Optical apparatus for performing observations and measurements by using images of measured objects
Mitutoyo Corporation
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US10302466B2
28.05.19 (82) |
Contamination and defect resistant optical encoder configuration including first and second illumination source diffraction gratings arranged in first and second parallel planes for providing displacement signals
Mitutoyo Corporation
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US10302415B2
28.05.19 (82) |
Method for calculating a height map of a body of transparent material having an inclined or curved surface
Mitutoyo Corporation
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EP2977720B1
05.06.19 (88) |
A method for measuring a high accuracy height map of a test surface | Verfahren zur Messung einer hochgenauen Höhenkarte einer Testoberfläche | Procédé de mesure d'une carte de hauteur à grande précision pour une surface de test
Mitutoyo Corporation
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EP2482040B1
05.06.19 (88) |
Optical Encoder with Misalignment Detection and Adjustment Method Associated Therewith | Optischer Kodierer mit Fehlausrichtungserkennung und damit assoziiertes Anpassverfahren | Encodeur optique avec détection de désalignement et procédé de réglage associé à celui-ci
Mitutoyo Corporation
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US10317253B2
11.06.19 (94) |
Optical encoder
Mitutoyo Corporation
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US10317202B2
11.06.19 (94) |
Parameter setting method of measuring instrument and computer readable medium
Mitutoyo Corporation
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US10317192B2
11.06.19 (94) |
Geometry measurement system, geometry measurement apparatus, and geometry measurement method
Mitutoyo Corporation
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EP3333533B1
12.06.19 (95) |
TOUCH PROBE FOR A COORDINATE MEASURING MACHINE AND OPERATING METHOD THEREOF | TASTKOPF EINER KOORDINATENMESSMASCHINE UND BETRIEBSVERFAHREN DAFÜR | SONDE DE CONTACT D'UN APPAREIL DE MESURE DE COORDONNÉES ET SON PROCÉDÉ DE FONCTIONNEMENT
Mitutoyo Corporation
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US10323928B2
18.06.19 (101) |
Optical configuration for measurement device using emitter material configuration
Mitutoyo Corporation
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US10323921B2
18.06.19 (101) |
Roundness measuring apparatus
Mitutoyo Corporation
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