Patentschrift
Erteilung (Frist) |
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel) |
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EP2503325B1
21.11.18 (3) |
Edge location measurement correction for coaxial light images | Kantenpositionsmesskorrektur für koaxiale Lichtbilder | Correction de mesures de localisation de bord pour des images de lumière coaxiale
Mitutoyo Corporation
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US10145666B2
04.12.18 (17) |
Touch probe for CMM including digital signal communication
Mitutoyo Corporation
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EP3182054B1
05.12.18 (18) |
OPTICAL CONFIGURATION FOR MEASUREMENT DEVICE | OPTISCHE KONFIGURATION FÜR EINE MESSVORRICHTUNG | CONFIGURATION OPTIQUE POUR DISPOSITIF DE MESURE
Mitutoyo Corporation
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EP2447663B1
05.12.18 (18) |
Interference objective lens unit with temperature variation compensation and light-interference measuring apparatus using thereof | Interferenzobjektivlinseneinheit und Lichtinterferenzmessungsvorrichtung damit | Unité de lentille d'objectif d'interférence et appareil de mesure d'interférence lumineuse l'utilisant
Mitutoyo Corporation
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EP2653838B1
19.12.18 (32) |
Multiple wavelength configuration for an optical encoder readhead | Konfiguration mit mehreren Wellenlänge für einen optischen Codierlesekopf | Configuration de longueurs d'onde multiples pour une lecture de codeur optique
Mitutoyo Corporation
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EP2554949B1
19.12.18 (32) |
Electromagnetic induction type absolute position measuring encoder | Elektromagnetischer Induktions-Absolutpositionierungs-Mess-Codierer | Codeur de mesure de position absolu de type à induction électromagnétique
Mitutoyo Corporation
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US10162041B2
25.12.18 (38) |
Measurement system using tracking-type laser interferometer and return method of the measurement system
Mitutoyo Corporation
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US10161747B2
25.12.18 (38) |
Surface texture measuring apparatus and method
Mitutoyo Corporation
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US10161743B2
25.12.18 (38) |
Measuring probe and measuring probe system
Mitutoyo Corporation
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EP3141874B1
26.12.18 (39) |
ABSOLUTE POSITION DETECTION TYPE PHOTOELECTRIC ENCODER | PHOTOELEKTRISCHER CODIERER VOM ABSOLUTPOSITIONSDETEKTIONSTYP | ENCODEUR PHOTOÉLECTRIQUE DE TYPE À DÉTECTION DE POSITION ABSOLUE
Mitutoyo Corporation
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US10168189B1
01.01.19 (44) |
Contamination and defect resistant optical encoder configuration for providing displacement signal having a plurality of spatial phase detectors arranged in a spatial phase sequence along a direction transverse to the measuring axis
Mitutoyo Corporation
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EP3026400B1
02.01.19 (45) |
OPTICAL ENCODER | OPTISCHER CODIERER | ENCODEUR OPTIQUE
Mitutoyo Corporation
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EP2733455B1
02.01.19 (45) |
Spherical-form measuring apparatus | Kugelformmessvorrichtung | Appareil de mesure de forme sphérique
Mitutoyo Corporation
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EP2259014B1
09.01.19 (52) |
Alignment adjusting mechanism and measuring instrument | Ausrichtungsanpassungsmechanismus und Messinstrument | Mécanisme d'ajustement de l'alignement et instrument de mesure
Mitutoyo Corporation
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EP2843357B1
16.01.19 (59) |
Determining the centre of a V-Groove | Ermittlung des Zentrums einer V-Nut | Déterminer le centre d'une rainure en V
Mitutoyo Corporation
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US10184810B2
22.01.19 (65) |
Encoder having light-receiving unit that includes light-receiving element array
Mitutoyo Corporation
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US10184773B2
22.01.19 (65) |
Sensor signal offset compensation system for a CMM touch probe
Mitutoyo Corporation
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US10190893B2
29.01.19 (72) |
Encoder
Mitutoyo Corporation
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US10190892B2
29.01.19 (72) |
Encoder
Mitutoyo Corporation
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DE10238268B4
31.01.19 (74) |
An einen Ausgang angeschlossenes Messgerät
Mitutoyo Corporation
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US10197375B2
05.02.19 (79) |
Probe head of three-dimensional coordinate measuring device and touch detection method
Mitutoyo Corporation
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US10197374B2
05.02.19 (79) |
Measuring apparatus
Mitutoyo Corporation
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EP2722644B1
06.02.19 (80) |
Surface roughness measuring unit and coordinate measuring apparatus | Rauheitsmessungseinheit und Koordinatenmessgerät | Module de mesure de la rugosité et appareil de mesure de coordonnées
Mitutoyo Corporation
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US10203190B2
12.02.19 (86) |
Measuring device
Mitutoyo Corporation
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US10215547B2
26.02.19 (100) |
Method for operating a coordinate measuring machine
Mitutoyo Corporation
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EP2573507B1
27.02.19 (101) |
Precision stage interferometer system with air duct | Interferometersystem mit Luftleitung für feinmechanische Trägerplatte | Système interférométrique avec manche à air pour dispositif porte-objet de précision
Mitutoyo Corporation
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DE10115288B4
28.02.19 (102) |
Messvorrichtung für Oberflächenstrukturen und Messverfahren für Oberflächenstrukturen
Mitutoyo Corporation
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EP2570776B1
13.03.19 (117) |
Inductive Detection Encoder and Digital Micrometer | Induktiver Erkennungskodierer und digitales Mikrometer | Codeur de détection inductive et micromètre numérique
Mitutoyo Corporation
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DE102014218642B4
14.03.19 (118) |
Verfahren zum Betreiben einer Koordinatenmessvorrichtung
Mitutoyo Corporation
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US10234310B2
19.03.19 (123) |
Light-emitting unit, light-emitting and light-receiving unit and photoelectric encoder
Mitutoyo Corporation
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EP3182052B1
20.03.19 (124) |
MEASUREMENT DEVICE WITH MULTIPLEXED POSITION SIGNALS | MESSVORRICHTUNG MIT GEMULTIPLEXTEN POSITIONSSIGNALEN | DISPOSITIF DE MESURE AVEC SIGNAUX DE POSITION MULTIPLEXÉS
Mitutoyo Corporation
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DE102014222056B4
21.03.19 (125) |
Optische Anordnung für strukturierte Beleuchtungsmikroskopie mit Projektionsartefakt-Unterdrückungselement
Mitutoyo Corporation
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EP3336484B1
27.03.19 (131) |
TOUCH PROBE FOR CMM INCLUDING DIGITAL SIGNAL COMMUNICATION | TASTKOPF FÜR KOORDINATENMESSMASCHINE MIT DIGITALSIGNALKOMMUNIKATION | SONDE DE CONTACT POUR UNE MACHINE DE MESURE DE COORDONNÉES COMPRENANT UNE COMMUNICATION DE SIGNAUX NUMÉRIQUES
Mitutoyo Corporation
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EP2325597B1
03.04.19 (138) |
Non-contact optical probe and measuring machine | Kontaktlose optische Sonde und Messmaschine | Sonde optique sans contact et machine de mesure
Mitutoyo Corporation
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US10254137B2
09.04.19 (144) |
Photoelectric encoder for deconcentrating calculation load and reducing power consumption and measuring instrument including thereof
Mitutoyo Corporation
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US10254113B2
09.04.19 (144) |
Inspection program editing environment providing user defined collision avoidance volumes
Mitutoyo Corporation
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EP1726919B1
10.04.19 (145) |
Method and apparatus for generating an origin signal of an encoder | Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung eines Quellensignals eines Kodierers | Procédé et appareil générant un signal provenant d'un encodeur
Mitutoyo Corporation
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US10260853B2
16.04.19 (151) |
Linear gage
Mitutoyo Corporation
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DE10016070B4
18.04.19 (153) |
Bewegungssteuervorrichtung einer Schwingsonde eines Kontakttyps
Mitutoyo Corporation
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EP2738515B1
24.04.19 (159) |
Measuring system, method and computer program product | Messvorrichtung, Verfahren und Computerprogrammprodukt | Dispositif de mesure, procédé et produit de programme informatique
Mitutoyo Corporation
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EP2597431B1
24.04.19 (159) |
Scale of photoelectric encoder and manufacturing method of the same | Skala für einen photoelektrischen Codierer und Herstellungsverfahren dafür | Échelle de codeur photoélectrique et son procédé de fabrication
Mitutoyo Corporation
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US10274344B2
30.04.19 (165) |
Displacement encoder
Mitutoyo Corporation
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US10274313B2
30.04.19 (165) |
Measurement method and measurement program for calculating roughness of a curved surface
Mitutoyo Corporation
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EP3260811B1
01.05.19 (167) |
METHOD FOR OPERATING A COORDINATE MEASURING MACHINE | VERFAHREN ZUM BETRIEB EINER KOORDINATENMESSMASCHINE | PROCÉDÉ DE FONCTIONNEMENT D'UNE MACHINE DE MESURE DE COORDONNÉES
Mitutoyo Corporation
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EP1729097B1
08.05.19 (174) |
PHOTOELECTRIC ENCODER | FOTOELEKTRISCHER CODIERER | CODEUR PHOTO ELECTRIQUE
Mitutoyo Corporation
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DE10242027B4
09.05.19 (175) |
Fotoelektrischer Kodierer
Mitutoyo Corporation
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US10288402B2
14.05.19 (180) |
Industrial machine
Mitutoyo Corporation
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US10295648B2
21.05.19 (187) |
Contamination and defect resistant optical encoder configuration including a normal of readhead plane at a non-zero pitch angle relative to measuring axis for providing displacement signals
Mitutoyo Corporation
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US10295378B2
21.05.19 (187) |
Contamination and defect resistant optical encoder configuration outputting structured illumination to a scale plane for providing displacement signals
Mitutoyo Corporation
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US10295337B2
21.05.19 (187) |
Surface texture measuring apparatus
Mitutoyo Corporation
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US10295324B2
21.05.19 (187) |
Measuring instrument
Mitutoyo Corporation
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US10302930B2
28.05.19 (194) |
Optical apparatus for performing observations and measurements by using images of measured objects
Mitutoyo Corporation
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US10302466B2
28.05.19 (194) |
Contamination and defect resistant optical encoder configuration including first and second illumination source diffraction gratings arranged in first and second parallel planes for providing displacement signals
Mitutoyo Corporation
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US10302415B2
28.05.19 (194) |
Method for calculating a height map of a body of transparent material having an inclined or curved surface
Mitutoyo Corporation
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EP2977720B1
05.06.19 (200) |
A method for measuring a high accuracy height map of a test surface | Verfahren zur Messung einer hochgenauen Höhenkarte einer Testoberfläche | Procédé de mesure d'une carte de hauteur à grande précision pour une surface de test
Mitutoyo Corporation
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EP2482040B1
05.06.19 (200) |
Optical Encoder with Misalignment Detection and Adjustment Method Associated Therewith | Optischer Kodierer mit Fehlausrichtungserkennung und damit assoziiertes Anpassverfahren | Encodeur optique avec détection de désalignement et procédé de réglage associé à celui-ci
Mitutoyo Corporation
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US10317253B2
11.06.19 (206) |
Optical encoder
Mitutoyo Corporation
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US10317202B2
11.06.19 (206) |
Parameter setting method of measuring instrument and computer readable medium
Mitutoyo Corporation
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US10317192B2
11.06.19 (206) |
Geometry measurement system, geometry measurement apparatus, and geometry measurement method
Mitutoyo Corporation
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EP3333533B1
12.06.19 (207) |
TOUCH PROBE FOR A COORDINATE MEASURING MACHINE AND OPERATING METHOD THEREOF | TASTKOPF EINER KOORDINATENMESSMASCHINE UND BETRIEBSVERFAHREN DAFÜR | SONDE DE CONTACT D'UN APPAREIL DE MESURE DE COORDONNÉES ET SON PROCÉDÉ DE FONCTIONNEMENT
Mitutoyo Corporation
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US10323928B2
18.06.19 (213) |
Optical configuration for measurement device using emitter material configuration
Mitutoyo Corporation
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US10323921B2
18.06.19 (213) |
Roundness measuring apparatus
Mitutoyo Corporation
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