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Anmelder = Mitutoyo Corporation


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
EP2503325B1
21.11.18 (3)
Edge location measurement correction for coaxial light images | Kantenpositionsmesskorrektur für koaxiale Lichtbilder | Correction de mesures de localisation de bord pour des images de lumière coaxiale
Mitutoyo Corporation
US10145666B2
04.12.18 (17)
Touch probe for CMM including digital signal communication
Mitutoyo Corporation
EP3182054B1
05.12.18 (18)
OPTICAL CONFIGURATION FOR MEASUREMENT DEVICE | OPTISCHE KONFIGURATION FÜR EINE MESSVORRICHTUNG | CONFIGURATION OPTIQUE POUR DISPOSITIF DE MESURE
Mitutoyo Corporation
EP2447663B1
05.12.18 (18)
Interference objective lens unit with temperature variation compensation and light-interference measuring apparatus using thereof | Interferenzobjektivlinseneinheit und Lichtinterferenzmessungsvorrichtung damit | Unité de lentille d'objectif d'interférence et appareil de mesure d'interférence lumineuse l'utilisant
Mitutoyo Corporation
EP2653838B1
19.12.18 (32)
Multiple wavelength configuration for an optical encoder readhead | Konfiguration mit mehreren Wellenlänge für einen optischen Codierlesekopf | Configuration de longueurs d'onde multiples pour une lecture de codeur optique
Mitutoyo Corporation
EP2554949B1
19.12.18 (32)
Electromagnetic induction type absolute position measuring encoder | Elektromagnetischer Induktions-Absolutpositionierungs-Mess-Codierer | Codeur de mesure de position absolu de type à induction électromagnétique
Mitutoyo Corporation
US10162041B2
25.12.18 (38)
Measurement system using tracking-type laser interferometer and return method of the measurement system
Mitutoyo Corporation
US10161747B2
25.12.18 (38)
Surface texture measuring apparatus and method
Mitutoyo Corporation
US10161743B2
25.12.18 (38)
Measuring probe and measuring probe system
Mitutoyo Corporation
EP3141874B1
26.12.18 (39)
ABSOLUTE POSITION DETECTION TYPE PHOTOELECTRIC ENCODER | PHOTOELEKTRISCHER CODIERER VOM ABSOLUTPOSITIONSDETEKTIONSTYP | ENCODEUR PHOTOÉLECTRIQUE DE TYPE À DÉTECTION DE POSITION ABSOLUE
Mitutoyo Corporation
US10168189B1
01.01.19 (44)
Contamination and defect resistant optical encoder configuration for providing displacement signal having a plurality of spatial phase detectors arranged in a spatial phase sequence along a direction transverse to the measuring axis
Mitutoyo Corporation
EP3026400B1
02.01.19 (45)
OPTICAL ENCODER | OPTISCHER CODIERER | ENCODEUR OPTIQUE
Mitutoyo Corporation
EP2733455B1
02.01.19 (45)
Spherical-form measuring apparatus | Kugelformmessvorrichtung | Appareil de mesure de forme sphérique
Mitutoyo Corporation
EP2259014B1
09.01.19 (52)
Alignment adjusting mechanism and measuring instrument | Ausrichtungsanpassungsmechanismus und Messinstrument | Mécanisme d'ajustement de l'alignement et instrument de mesure
Mitutoyo Corporation
EP2843357B1
16.01.19 (59)
Determining the centre of a V-Groove | Ermittlung des Zentrums einer V-Nut | Déterminer le centre d'une rainure en V
Mitutoyo Corporation
US10184810B2
22.01.19 (65)
Encoder having light-receiving unit that includes light-receiving element array
Mitutoyo Corporation
US10184773B2
22.01.19 (65)
Sensor signal offset compensation system for a CMM touch probe
Mitutoyo Corporation
US10190893B2
29.01.19 (72)
Encoder
Mitutoyo Corporation
US10190892B2
29.01.19 (72)
Encoder
Mitutoyo Corporation
DE10238268B4
31.01.19 (74)
An einen Ausgang angeschlossenes Messgerät
Mitutoyo Corporation
US10197375B2
05.02.19 (79)
Probe head of three-dimensional coordinate measuring device and touch detection method
Mitutoyo Corporation
US10197374B2
05.02.19 (79)
Measuring apparatus
Mitutoyo Corporation
EP2722644B1
06.02.19 (80)
Surface roughness measuring unit and coordinate measuring apparatus | Rauheitsmessungseinheit und Koordinatenmessgerät | Module de mesure de la rugosité et appareil de mesure de coordonnées
Mitutoyo Corporation
US10203190B2
12.02.19 (86)
Measuring device
Mitutoyo Corporation
US10215547B2
26.02.19 (100)
Method for operating a coordinate measuring machine
Mitutoyo Corporation
EP2573507B1
27.02.19 (101)
Precision stage interferometer system with air duct | Interferometersystem mit Luftleitung für feinmechanische Trägerplatte | Système interférométrique avec manche à air pour dispositif porte-objet de précision
Mitutoyo Corporation
DE10115288B4
28.02.19 (102)
Messvorrichtung für Oberflächenstrukturen und Messverfahren für Oberflächenstrukturen
Mitutoyo Corporation
EP2570776B1
13.03.19 (117)
Inductive Detection Encoder and Digital Micrometer | Induktiver Erkennungskodierer und digitales Mikrometer | Codeur de détection inductive et micromètre numérique
Mitutoyo Corporation
DE102014218642B4
14.03.19 (118)
Verfahren zum Betreiben einer Koordinatenmessvorrichtung
Mitutoyo Corporation
US10234310B2
19.03.19 (123)
Light-emitting unit, light-emitting and light-receiving unit and photoelectric encoder
Mitutoyo Corporation
EP3182052B1
20.03.19 (124)
MEASUREMENT DEVICE WITH MULTIPLEXED POSITION SIGNALS | MESSVORRICHTUNG MIT GEMULTIPLEXTEN POSITIONSSIGNALEN | DISPOSITIF DE MESURE AVEC SIGNAUX DE POSITION MULTIPLEXÉS
Mitutoyo Corporation
DE102014222056B4
21.03.19 (125)
Optische Anordnung für strukturierte Beleuchtungsmikroskopie mit Projektionsartefakt-Unterdrückungselement
Mitutoyo Corporation
EP3336484B1
27.03.19 (131)
TOUCH PROBE FOR CMM INCLUDING DIGITAL SIGNAL COMMUNICATION | TASTKOPF FÜR KOORDINATENMESSMASCHINE MIT DIGITALSIGNALKOMMUNIKATION | SONDE DE CONTACT POUR UNE MACHINE DE MESURE DE COORDONNÉES COMPRENANT UNE COMMUNICATION DE SIGNAUX NUMÉRIQUES
Mitutoyo Corporation
EP2325597B1
03.04.19 (138)
Non-contact optical probe and measuring machine | Kontaktlose optische Sonde und Messmaschine | Sonde optique sans contact et machine de mesure
Mitutoyo Corporation
US10254137B2
09.04.19 (144)
Photoelectric encoder for deconcentrating calculation load and reducing power consumption and measuring instrument including thereof
Mitutoyo Corporation
US10254113B2
09.04.19 (144)
Inspection program editing environment providing user defined collision avoidance volumes
Mitutoyo Corporation
EP1726919B1
10.04.19 (145)
Method and apparatus for generating an origin signal of an encoder | Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung eines Quellensignals eines Kodierers | Procédé et appareil générant un signal provenant d'un encodeur
Mitutoyo Corporation
US10260853B2
16.04.19 (151)
Linear gage
Mitutoyo Corporation
DE10016070B4
18.04.19 (153)
Bewegungssteuervorrichtung einer Schwingsonde eines Kontakttyps
Mitutoyo Corporation
EP2738515B1
24.04.19 (159)
Measuring system, method and computer program product | Messvorrichtung, Verfahren und Computerprogrammprodukt | Dispositif de mesure, procédé et produit de programme informatique
Mitutoyo Corporation
EP2597431B1
24.04.19 (159)
Scale of photoelectric encoder and manufacturing method of the same | Skala für einen photoelektrischen Codierer und Herstellungsverfahren dafür | Échelle de codeur photoélectrique et son procédé de fabrication
Mitutoyo Corporation
US10274344B2
30.04.19 (165)
Displacement encoder
Mitutoyo Corporation
US10274313B2
30.04.19 (165)
Measurement method and measurement program for calculating roughness of a curved surface
Mitutoyo Corporation
EP3260811B1
01.05.19 (167)
METHOD FOR OPERATING A COORDINATE MEASURING MACHINE | VERFAHREN ZUM BETRIEB EINER KOORDINATENMESSMASCHINE | PROCÉDÉ DE FONCTIONNEMENT D'UNE MACHINE DE MESURE DE COORDONNÉES
Mitutoyo Corporation
EP1729097B1
08.05.19 (174)
PHOTOELECTRIC ENCODER | FOTOELEKTRISCHER CODIERER | CODEUR PHOTO ELECTRIQUE
Mitutoyo Corporation
DE10242027B4
09.05.19 (175)
Fotoelektrischer Kodierer
Mitutoyo Corporation
US10288402B2
14.05.19 (180)
Industrial machine
Mitutoyo Corporation
US10295648B2
21.05.19 (187)
Contamination and defect resistant optical encoder configuration including a normal of readhead plane at a non-zero pitch angle relative to measuring axis for providing displacement signals
Mitutoyo Corporation
US10295378B2
21.05.19 (187)
Contamination and defect resistant optical encoder configuration outputting structured illumination to a scale plane for providing displacement signals
Mitutoyo Corporation
US10295337B2
21.05.19 (187)
Surface texture measuring apparatus
Mitutoyo Corporation
US10295324B2
21.05.19 (187)
Measuring instrument
Mitutoyo Corporation
US10302930B2
28.05.19 (194)
Optical apparatus for performing observations and measurements by using images of measured objects
Mitutoyo Corporation
US10302466B2
28.05.19 (194)
Contamination and defect resistant optical encoder configuration including first and second illumination source diffraction gratings arranged in first and second parallel planes for providing displacement signals
Mitutoyo Corporation
US10302415B2
28.05.19 (194)
Method for calculating a height map of a body of transparent material having an inclined or curved surface
Mitutoyo Corporation
EP2977720B1
05.06.19 (200)
A method for measuring a high accuracy height map of a test surface | Verfahren zur Messung einer hochgenauen Höhenkarte einer Testoberfläche | Procédé de mesure d'une carte de hauteur à grande précision pour une surface de test
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
EP2482040B1
05.06.19 (200)
Optical Encoder with Misalignment Detection and Adjustment Method Associated Therewith | Optischer Kodierer mit Fehlausrichtungserkennung und damit assoziiertes Anpassverfahren | Encodeur optique avec détection de désalignement et procédé de réglage associé à celui-ci
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
US10317253B2
11.06.19 (206)
Optical encoder
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
US10317202B2
11.06.19 (206)
Parameter setting method of measuring instrument and computer readable medium
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
US10317192B2
11.06.19 (206)
Geometry measurement system, geometry measurement apparatus, and geometry measurement method
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
EP3333533B1
12.06.19 (207)
TOUCH PROBE FOR A COORDINATE MEASURING MACHINE AND OPERATING METHOD THEREOF | TASTKOPF EINER KOORDINATENMESSMASCHINE UND BETRIEBSVERFAHREN DAFÜR | SONDE DE CONTACT D'UN APPAREIL DE MESURE DE COORDONNÉES ET SON PROCÉDÉ DE FONCTIONNEMENT
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
US10323928B2
18.06.19 (213)
Optical configuration for measurement device using emitter material configuration
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
US10323921B2
18.06.19 (213)
Roundness measuring apparatus
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
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