Anmelder = Mitutoyo Corporation

Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift Erteilung (Frist)		Anmelder Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
	EP2843357B1 16.01.19 (2)	Determining the centre of a V-Groove | Ermittlung des Zentrums einer V-Nut | Déterminer le centre d'une rainure en V Mitutoyo Corporation
	US10184810B2 22.01.19 (8)	Encoder having light-receiving unit that includes light-receiving element array Mitutoyo Corporation
	US10184773B2 22.01.19 (8)	Sensor signal offset compensation system for a CMM touch probe Mitutoyo Corporation
	US10190893B2 29.01.19 (15)	Encoder Mitutoyo Corporation
	US10190892B2 29.01.19 (15)	Encoder Mitutoyo Corporation
	DE10238268B4 31.01.19 (17)	An einen Ausgang angeschlossenes Messgerät Mitutoyo Corporation
	US10197375B2 05.02.19 (22)	Probe head of three-dimensional coordinate measuring device and touch detection method Mitutoyo Corporation
	US10197374B2 05.02.19 (22)	Measuring apparatus Mitutoyo Corporation
	EP2722644B1 06.02.19 (23)	Surface roughness measuring unit and coordinate measuring apparatus | Rauheitsmessungseinheit und Koordinatenmessgerät | Module de mesure de la rugosité et appareil de mesure de coordonnées Mitutoyo Corporation
	US10203190B2 12.02.19 (29)	Measuring device Mitutoyo Corporation
	US10215547B2 26.02.19 (43)	Method for operating a coordinate measuring machine Mitutoyo Corporation
	EP2573507B1 27.02.19 (44)	Precision stage interferometer system with air duct | Interferometersystem mit Luftleitung für feinmechanische Trägerplatte | Système interférométrique avec manche à air pour dispositif porte-objet de précision Mitutoyo Corporation
	DE10115288B4 28.02.19 (45)	Messvorrichtung für Oberflächenstrukturen und Messverfahren für Oberflächenstrukturen Mitutoyo Corporation
	EP2570776B1 13.03.19 (60)	Inductive Detection Encoder and Digital Micrometer | Induktiver Erkennungskodierer und digitales Mikrometer | Codeur de détection inductive et micromètre numérique Mitutoyo Corporation
	DE102014218642B4 14.03.19 (61)	Verfahren zum Betreiben einer Koordinatenmessvorrichtung Mitutoyo Corporation
	US10234310B2 19.03.19 (66)	Light-emitting unit, light-emitting and light-receiving unit and photoelectric encoder Mitutoyo Corporation
	EP3182052B1 20.03.19 (67)	MEASUREMENT DEVICE WITH MULTIPLEXED POSITION SIGNALS | MESSVORRICHTUNG MIT GEMULTIPLEXTEN POSITIONSSIGNALEN | DISPOSITIF DE MESURE AVEC SIGNAUX DE POSITION MULTIPLEXÉS Mitutoyo Corporation
	DE102014222056B4 21.03.19 (68)	Optische Anordnung für strukturierte Beleuchtungsmikroskopie mit Projektionsartefakt-Unterdrückungselement Mitutoyo Corporation
	EP3336484B1 27.03.19 (74)	TOUCH PROBE FOR CMM INCLUDING DIGITAL SIGNAL COMMUNICATION | TASTKOPF FÜR KOORDINATENMESSMASCHINE MIT DIGITALSIGNALKOMMUNIKATION | SONDE DE CONTACT POUR UNE MACHINE DE MESURE DE COORDONNÉES COMPRENANT UNE COMMUNICATION DE SIGNAUX NUMÉRIQUES Mitutoyo Corporation
	EP2325597B1 03.04.19 (81)	Non-contact optical probe and measuring machine | Kontaktlose optische Sonde und Messmaschine | Sonde optique sans contact et machine de mesure Mitutoyo Corporation
	US10254137B2 09.04.19 (87)	Photoelectric encoder for deconcentrating calculation load and reducing power consumption and measuring instrument including thereof Mitutoyo Corporation
	US10254113B2 09.04.19 (87)	Inspection program editing environment providing user defined collision avoidance volumes Mitutoyo Corporation
	EP1726919B1 10.04.19 (88)	Method and apparatus for generating an origin signal of an encoder | Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung eines Quellensignals eines Kodierers | Procédé et appareil générant un signal provenant d'un encodeur Mitutoyo Corporation
	US10260853B2 16.04.19 (94)	Linear gage Mitutoyo Corporation
	DE10016070B4 18.04.19 (96)	Bewegungssteuervorrichtung einer Schwingsonde eines Kontakttyps Mitutoyo Corporation
	EP2738515B1 24.04.19 (102)	Measuring system, method and computer program product | Messvorrichtung, Verfahren und Computerprogrammprodukt | Dispositif de mesure, procédé et produit de programme informatique Mitutoyo Corporation
	EP2597431B1 24.04.19 (102)	Scale of photoelectric encoder and manufacturing method of the same | Skala für einen photoelektrischen Codierer und Herstellungsverfahren dafür | Échelle de codeur photoélectrique et son procédé de fabrication Mitutoyo Corporation
	US10274344B2 30.04.19 (108)	Displacement encoder Mitutoyo Corporation
	US10274313B2 30.04.19 (108)	Measurement method and measurement program for calculating roughness of a curved surface Mitutoyo Corporation
	EP3260811B1 01.05.19 (110)	METHOD FOR OPERATING A COORDINATE MEASURING MACHINE | VERFAHREN ZUM BETRIEB EINER KOORDINATENMESSMASCHINE | PROCÉDÉ DE FONCTIONNEMENT D'UNE MACHINE DE MESURE DE COORDONNÉES Mitutoyo Corporation
	EP1729097B1 08.05.19 (117)	PHOTOELECTRIC ENCODER | FOTOELEKTRISCHER CODIERER | CODEUR PHOTO ELECTRIQUE Mitutoyo Corporation
	DE10242027B4 09.05.19 (118)	Fotoelektrischer Kodierer Mitutoyo Corporation
	US10288402B2 14.05.19 (123)	Industrial machine Mitutoyo Corporation
	US10295648B2 21.05.19 (130)	Contamination and defect resistant optical encoder configuration including a normal of readhead plane at a non-zero pitch angle relative to measuring axis for providing displacement signals Mitutoyo Corporation
	US10295378B2 21.05.19 (130)	Contamination and defect resistant optical encoder configuration outputting structured illumination to a scale plane for providing displacement signals Mitutoyo Corporation
	US10295337B2 21.05.19 (130)	Surface texture measuring apparatus Mitutoyo Corporation
	US10295324B2 21.05.19 (130)	Measuring instrument Mitutoyo Corporation
	US10302930B2 28.05.19 (137)	Optical apparatus for performing observations and measurements by using images of measured objects Mitutoyo Corporation
	US10302466B2 28.05.19 (137)	Contamination and defect resistant optical encoder configuration including first and second illumination source diffraction gratings arranged in first and second parallel planes for providing displacement signals Mitutoyo Corporation
	US10302415B2 28.05.19 (137)	Method for calculating a height map of a body of transparent material having an inclined or curved surface Mitutoyo Corporation
	EP2977720B1 05.06.19 (143)	A method for measuring a high accuracy height map of a test surface | Verfahren zur Messung einer hochgenauen Höhenkarte einer Testoberfläche | Procédé de mesure d'une carte de hauteur à grande précision pour une surface de test Mitutoyo Corporation
	EP2482040B1 05.06.19 (143)	Optical Encoder with Misalignment Detection and Adjustment Method Associated Therewith | Optischer Kodierer mit Fehlausrichtungserkennung und damit assoziiertes Anpassverfahren | Encodeur optique avec détection de désalignement et procédé de réglage associé à celui-ci Mitutoyo Corporation
	US10317253B2 11.06.19 (149)	Optical encoder Mitutoyo Corporation
	US10317202B2 11.06.19 (149)	Parameter setting method of measuring instrument and computer readable medium Mitutoyo Corporation
	US10317192B2 11.06.19 (149)	Geometry measurement system, geometry measurement apparatus, and geometry measurement method Mitutoyo Corporation
	EP3333533B1 12.06.19 (150)	TOUCH PROBE FOR A COORDINATE MEASURING MACHINE AND OPERATING METHOD THEREOF | TASTKOPF EINER KOORDINATENMESSMASCHINE UND BETRIEBSVERFAHREN DAFÜR | SONDE DE CONTACT D'UN APPAREIL DE MESURE DE COORDONNÉES ET SON PROCÉDÉ DE FONCTIONNEMENT Mitutoyo Corporation
	US10323928B2 18.06.19 (156)	Optical configuration for measurement device using emitter material configuration Mitutoyo Corporation
	US10323921B2 18.06.19 (156)	Roundness measuring apparatus Mitutoyo Corporation