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Anmelder = YSYSTEMS LTD.


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
EP3176539B1
01.01.20 (176)
DEVICE FOR MEASURING AND METHOD FOR MEASURING SURFACE SHAPE | VORRICHTUNG ZUR MESSUNG UND VERFAHREN ZUR MESSUNG EINER OBERFLÄCHENFORM | DISPOSITIF DE MESURE ET PROCÉDÉ DE MESURE DE FORME DE SURFACE
YSYSTEMS LTD.
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