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Anmelder = National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Tokyo 100-8921


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
EP2500695B1
13.05.20 (137)
ANGLE DETECTING DEVICE WITH COMPLEX SELF-CALIBRATION FUNCTION | WINKELDETEKTIONSGERÄT MIT KOMPLEXER SELBSTKALIBRIERUNGSFUNKTION | APPAREIL DE DÉTECTION D'ANGLE COMPORTANT UNE FONCTION COMPLEXE D'AUTO-ÉTALONNAGE
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Tokyo 100-8921
EP2500696B1
22.07.20 (205)
AXIS RUN-OUT MEASURING METHOD AND ANGLE DETECTING DEVICE WITH SELF-CALIBRATION FUNCTION HAVING AXIS RUN-OOUT MEASURING FUNCTION | AXIALUNRUNDLAUFMESSVERFAHREN SOWIE WINKELMESSVORRICHTUNG MIT AUTOKORREKTURFUNKTION MIT AXIALUNRUNDLAUFMESSFUNKTION | PROCÉDÉ DE MESURE DU FAUX-ROND AXIAL ET DISPOSITIF DE DÉTECTION D'ANGLE COMPORTANT UNE FONCTION D'AUTOCORRECTION COMPRENANT UNE FONCTION DE MESURE
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Tokyo 100-8921
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