Anmelder = National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Tokyo 100-8921

Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift Erteilung (Frist)		Anmelder Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
	EP2500695B1 13.05.20 (137)	ANGLE DETECTING DEVICE WITH COMPLEX SELF-CALIBRATION FUNCTION | WINKELDETEKTIONSGERÄT MIT KOMPLEXER SELBSTKALIBRIERUNGSFUNKTION | APPAREIL DE DÉTECTION D'ANGLE COMPORTANT UNE FONCTION COMPLEXE D'AUTO-ÉTALONNAGE National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Tokyo 100-8921
	EP2500696B1 22.07.20 (205)	AXIS RUN-OUT MEASURING METHOD AND ANGLE DETECTING DEVICE WITH SELF-CALIBRATION FUNCTION HAVING AXIS RUN-OOUT MEASURING FUNCTION | AXIALUNRUNDLAUFMESSVERFAHREN SOWIE WINKELMESSVORRICHTUNG MIT AUTOKORREKTURFUNKTION MIT AXIALUNRUNDLAUFMESSFUNKTION | PROCÉDÉ DE MESURE DU FAUX-ROND AXIAL ET DISPOSITIF DE DÉTECTION D'ANGLE COMPORTANT UNE FONCTION D'AUTOCORRECTION COMPRENANT UNE FONCTION DE MESURE National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Tokyo 100-8921