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Anmelder = Leica Geosystems AG


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
EP3524926B1
20.05.20 (83)
AUGMENTED REALITY-BASED SYSTEM WITH PERIMETER DEFINITION FUNCTIONALITY AND CORRESPONDING INSPECTION METHOD | AUF ERWEITERTER REALITÄT BASIERENDES SYSTEM MIT PERIMETERDEFINITIONSFUNKTIONALITÄT UND ENTSPRECHENDES INSPEKTIONSVERFAHREN | SYSTÈME DE RÉALITÉ AUGMENTÉE AVEC FONCTIONNALITÉ DE DÉFINITION DE PÉRIMÈTRES ET MÉTHODE D'INSPECTION CORRESPONDANTE
Leica Geosystems AG
EP2108105B1
20.05.20 (83)
METHOD FOR DETERMINING AN INFLUENCING VARIABLE ON THE ECCENTRICITY OF AN ANGLE MEASURING DEVICE | VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG EINER EINFLUSSGRÖSSE AUF DIE EXZENTRIZITÄT IN EINEM WINKELMESSER | PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION D'UNE GRANDEUR D'INFLUENCE SUR L'EXCENTRICITÉ DANS UN DISPOSITIF DE MESURE D'ANGLE
Leica Geosystems AG
EP2583055B1
23.09.20 (206)
OPTISCHES MESSVERFAHREN UND MESSSYSTEM ZUM BESTIMMEN VON 3D-KOORDINATEN AUF EINER MESSOBJEKT-OBERFLÄCHE | Procédé de mesure optique et système de mesure destiné à la détermination de coordonnées 3D sur une surface d'un objet de mesure | Optical measurement method and system for determining 3D coordinates of a surface of a measurement object
Leica Geosystems AG
EP3001138B1
14.10.20 (227)
Messgerät zur Bestimmung der räumlichen Lage eines Messhilfsinstruments | Appareil de mesure destiné à la détermination de la position dans l'espace d'un instrument d'aide à la mesure | Measuring device for determining the spatial location of a measuring aid
Leica Geosystems AG
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