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Europäisches Patentamt

Verfahren zum Ermitteln von representativen Punkten, die Kanten und Ecken eines 3D-Objekts angeben

Patentnummer:DE102014113179B4
IPC Hauptklasse:G01B001124
Anmelder:
Erfinder:
Anmeldung:12.09.14
Offenlegung:28.01.14
Patenterteilung:12.01.17

Abstract / Hauptanspruch
Verfahren zum Ermitteln von repräsentativen Punkten PK i für erhabene Kanten und von repräsentativen Punkten PEi für erhabene Ecken einer aktuellen 3D-Form eines Objekts, mit folgenden Schritten:
1.1. Erfassen und/oder Bereitstellen einer 3D-Punktewolke P, die Koordinaten einer Vielzahl von Punkten P i der Oberfläche der aktuellen 3D-Form des Objektes angibt,
1.2.1. für jeden Punkt P i der 3D-Punktewolke P Ermitteln von Ebenen Ti,k,n, die durch den Punkt Pi und dazu unmittelbar benachbarte zwei Punkte Pi,k, Pi,n definiert sind, mit bi := Anzahl der zu Pi unmittelbar benachbarten Punkte, k ≠ n, und n, k ∊ [1, 2, ..., bi],
1.2.2. Ermitteln des relativ zum Objekt nach Außen gerichteten Normalenvektors N i,k,n der jeweiligen Ebenen Ti,k,n,
1.3.1. für jeden Punkt P i der 3D-Punktewolke P Ermitteln von Ebenen Oi,k,n, die durch drei zum Punkt Pi unmittelbar benachbarte Punkte Pi,k, Pi,n, Pi,m definiert sind, mit bi := Anzahl der zu Pi unmittelbar benachbarten Punkte, k ≠ n ≠ m, k ≠ n, k ≠ m, n ≠ m und n, k, m ∊ [1, 2, ..., bi],
1.3.2. Ermitteln eines gerichteten Abstands d i,k,n des Punktes Pi relativ zur Ebene Oi,k,n, wobei ein relativ zum Objekt nach Außen gerichteter Abstand di,k,n positiv, und ein relativ zum Objekt nach innen gerichtete Abstand di,k,n negativ ...

DE102014113179B4


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