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Europäisches Patentamt

Verfahren zum Kalibrieren einer elektromagnetische Strahlung abstrahlenden Vorrichtung mittels einer Sensoreinheit

Patentnummer:DE102018115334B3
IPC Hauptklasse:G01B001125
Anmelder:
Erfinder:
Anmeldung:26.06.18
Offenlegung:26.06.18
Patenterteilung:09.05.19

Abstract / Hauptanspruch
Vorliegend wird ein Verfahren bereitgestellt zum Kalibrieren einer elektromagnetische Strahlung abstrahlenden Vorrichtung mittels einer Sensoreinheit. Das Verfahren weist Projizieren eines Musters auf eine Projektionsfläche mittels der elektromagnetische Strahlung abstrahlenden Vorrichtung; Erfassen der Projektion des Musters mittels der Sensoreinheit;Berechnen von Trajektorien in der Bildebene der Sensoreinheit, welche die Propagation der Strahlung von der elektromagnetische Strahlung emittierenden Vorrichtung beschreiben, mitunter auf Basis der Lage von charakteristischen Merkmalen in dem Abbild des projizierten Musters; Berechnen von spezifischen Merkmalen entlang der berechneten Trajektorien, welche charakteristischen Merkmalen des Musters entsprechen im Grenzfall eines als unendlich angenommenen Abstandes zwischen der Projektionsfläche und der Vorrichtung; und Berechnen einer Fehlstellung der Vorrichtung bezüglich der Sensoreinheit.

DE102018115334B3


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