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Europäisches Patentamt

MEASUREMENT DEVICE AND MEASUREMENT METHOD FOR MEASURING THE THICKNESS OF A PANEL-SHAPED OBJECT | MESSEINRICHTUNG UND MESSVERFAHREN ZUM MESSEN DER DICKE EINES PLATTENFÖRMIGEN GEGENSTANDS | DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE MESURE PERMETTANT DE MESURER L'ÉPAISSEUR D'UN OBJET EN FORME DE PLAQUE

Patentnummer:EP2917684B1
IPC Hauptklasse:G01B000506
Anmelder:
Erfinder:
Anmeldung:06.11.13
Offenlegung:08.11.12
Patenterteilung:08.05.19

Abstract / Hauptanspruch
Es wird eine Messeinrichtung (100..103) zum Messen der Dicke (d) eines plattenförmigen Gegenstands (7), angegeben, welche einen ersten Messtaster (21..23) zum Aufsetzen auf einer ersten Fläche (9) des plattenförmigen Gegenstands (7) und einen zweiten bis vierten Messtaster (31..53) zum Aufsetzen auf einer der ersten Fläche (9) gegenüber liegenden zweiten Fläche (10) des plattenförmigen Gegenstands (7) umfasst. Weiterhin umfasst die Messeinrichtung (100..103) Mittel zum Berechnen der Dicke (d) des plattenförmigen Gegenstands (7) anhand der Positionen (81..84), an denen die Messtaster (21..53) den plattenförmigen Gegenstand (7) berühren. Darüber hinaus wird auch ein Messverfahren zum Messen der Dicke (d) eines plattenförmigen Gegenstands (7), angegeben.

The invention relates to a measurement device (100..103) for measuring the thickness (d) of a panel-shaped object (7), comprising a first measurement probe (21..23) for placing on a first surface (9) of the panel-shaped object (7), and a second to fourth measurement probe (31..53) for placing on a second surface (10) of the panel-shaped object (7) lying opposite said first surface (9). The measurement device (100..103) also comprises means for calculating the thickness (d) of the panel-shaped object (7) using the positions (81..84) at which said measurement probes (21..53) make contact with the panel-shaped object (7). The invention also relates to a measurement method for measuring the thickness (d) of a panel-shaped object (7).

L'invention concerne un dispositif de mesure (100..103) permettant de mesurer l'épaisseur (d) d'un objet (7) en forme de plaque, le dispositif comprenant un premier palpeur de mesure (21..23) destiné à être posé sur une première surface (9) de l'objet (7) en forme de plaque et un deuxième à un quatrième palpeur de mesure (31..53) destinés à être posés sur une deuxième surface (10) de l'objet (7) en forme de plaque opposée à la première surface (9). Le dispositif de mesure (100..103) comprend par ailleurs des moyens de calcul de l'épaisseur (d) de l'objet (7) en forme de plaque à l'aide des emplacements (81..84) où les palpeurs de mesure (21..53) sont en contact avec l'objet (7) en forme de plaque. L'invention concerne en outre un procédé de mesure permettant de mesurer l'épaisseur (d) d'un objet (7) en forme de plaque.

EP2917684B1


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