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Europäisches Patentamt

PERMITTIVITY MEASUREMENTS OF LAYERS | PERMITTIVITÄTSMESSUNGEN VON SCHICHTEN | MESURES DE PERMITTIVITÉ DE COUCHES

Patentnummer:EP3164672B1
IPC Hauptklasse:G01B000706
Anmelder:
Erfinder:
Anmeldung:02.07.15
Offenlegung:02.07.14
Patenterteilung:29.05.19

Abstract / Hauptanspruch
A system and method that permits measuring properties and thickness of a dielectric layer, particularly a dielectric layer close to a pipeline wall, and more particularly fluids flowing inside a pipe is provided. The present invention attains the above described objective by a system comprising a sensor operating in a material characterization mode in a first frequency range and a sensor operating in a thickness characterization mode in a second frequency range, and a method for operating said system.

L'invention concerne un système et un procédé permettant de mesurer des propriétés et l'épaisseur d'une couche diélectrique, en particulier d'une couche diélectrique située à proximité d'une paroi de conduite, et plus particulièrement de fluides s'écoulant à l'intérieur d'un conduit. La présente invention concerne ainsi un système comprenant un capteur fonctionnant en mode de caractérisation de matériau dans une première plage de fréquences et un capteur fonctionnant en mode de caractérisation d'épaisseur dans une seconde plage de fréquences, et un procédé d'exploitation dudit système.

EP3164672B1


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