patentverein.de - Patente
Patentethik
Überwachung
Beispielhaft
Trivial
Kurios
Unverständlich
Zurück Original-Dokument
Europäisches Patentamt

STRAIN MEASURING DEVICE | DEHNUNGSMESSVORRICHTUNG | DISPOSITIF DE MESURE DE DÉFORMATION

Patentnummer:EP2796830B1
IPC Hauptklasse:G01B000716
Anmelder:
Erfinder:
Anmeldung:06.12.11
Offenlegung:06.12.11
Patenterteilung:13.03.19

Abstract / Hauptanspruch
A mechanical quantity measuring device (semiconductor strain sensor) has a semiconductor chip including a plurality of piezoresistive elements formed on a front surface of a semiconductor substrate, a lead wire unit electrically connected to a plurality of electrodes of the semiconductor chip, and a plate member joined to a rear surface of the semiconductor chip. Further, the plate member includes a first region facing the rear surface of the semiconductor chip and a second region provided adjacent to the first region, and a thickness of the plate member in the first region is made larger than a thickness in the second region.

Le dispositif de mesure de quantité dynamique (capteur de déformation semi-conducteur) de l'invention possède : une puce semi-conductrice dans laquelle une pluralité d'éléments piézorésistifs est formée à la surface d'un substrat semi-conducteur; une unité de câblage d'extraction électriquement connectée à une pluralité d'électrodes de ladite puce semi-conductrice; et d'un matériau de plaque solidarisé à la face envers de ladite puce semi-conductrice. En outre, ledit matériau de plaque est équipé d'une première région s'opposant à ladite face envers de ladite puce semi-conductrice, et d'une seconde région disposée de part et d'autre ou à la périphérie de ladite première région, l'épaisseur dudit matériau de plaque dans ladite première région étant plus importante que dans ladite seconde région.

EP2796830B1


Kommentare zu diesem Patent schicken Sie bitte an .
Datenschutzerklärung