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Europäisches Patentamt

Prüfverfahren und Prüfvorrichtung

Patentnummer:DE102017126277B3
IPC Hauptklasse:G01B002132
Anmelder:
Erfinder:
Anmeldung:09.11.17
Offenlegung:09.11.17
Patenterteilung:06.12.18

Abstract / Hauptanspruch
Die Erfindung betrifft Verfahren zur Beurteilung des Verzugs eines langgestreckten Instrumententeils wie einer Pipettenspitze mittels einer Prüfvorrichtung sowie eine derartige Prüfvorrichtung, wobei das Instrumententeil an einer Halterung der Vorrichtung gehaltert und ausgerichtet wird, wobei mittels einer Messeinrichtung der Prüfvorrichtung ein Verzug des Instrumententeils als Lageabweichung eines vorbestimmter Bereichs des Instrumententeils von einer vordefinierten Solllage dieses Bereichs bei verzugfreiem Instrumententeil gemessen wird. Erfindungsgemäß wird das Instrumententeil mittels einer Anpresseinrichtung der Prüfvorrichtung mit Kraftbeaufschlagung gegen die Instrumententeilhalterung der Prüfvorrichtung angedrückt und die Messung der Lageabweichung zur Bestimmung des Verzugs des Instrumententeils erfolgt, nachdem das Instrumententeil mit einem Anpressdruck der Anpresseinrichtung gegen die Instrumententeilhalterung gedrückt wurde.

DE102017126277B3


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