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Europäisches Patentamt

Anordnung zur Vermessung zumindest teilweise reflektierender Oberflächen

Patentnummer:DE102017001524B4
IPC Hauptklasse:G01B001124
Anmelder:
Erfinder:Bichra, Mohamed (0)
Dipl.-Ing. (FH), 98716, Elgersburg, DE
Sinzinger, Stefan (0)
Univ.-Prof. Dr.rer.nat. habil., 98693, Ilmenau, DE
Anmeldung:10.02.17
Offenlegung:10.02.17
Patenterteilung:20.12.18

Abstract / Hauptanspruch
Anordnung zur Vermessung zumindest teilweise reflektierender Oberflächen eines Messobjektes (8), umfassend mindestens eine Beleuchtungsquelle (1), mindestens vier sammelnde Optiken (3, 5, 7, 10), mindestens zwei Raumfilter (6, 9), mindestens ein optisches Gitter (4) und eine Bildaufnahmeeinheit (11), wobei die Beleuchtungsquelle (1), die sammelnden Optiken (3, 5, 7, 10), die Raumfilter (6, 9), das optische Gitter (4) und die Bildaufnahmeeinheit (11) entlang einer gemeinsamen optische Achse positioniert sind.

DE102017001524B4


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