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Europäisches Patentamt

Position measuring device and method for operating the position measuring device | Positionsmesseinrichtung und Verfahren zum Betreiben der Positonsmesseinrichtung | Dispositif de mesure de position et procédé destiné au fonctionnement du dispositif de mesure de position

Patentnummer:EP2662666B1
IPC Hauptklasse:G01D0005244
Anmelder:Dr. Johannes Heidenhain GmbH (0)
83301, Traunreut, DE
Erfinder:Frese, Daniel (0)
Dr., 83278, Traunstein, DE
Mayer, Elmar (0)
Nuβdorf, DE
Anmeldung:11.02.13
Offenlegung:08.05.12
Patenterteilung:28.11.18

Abstract / Hauptanspruch
Die Erfindung bezieht sich auf eine Positionsmesseinrichtung mit einer Maßverkörperung (2), einer Abtasteinheit (3) zum Abtasten der Maßverkörperung (2) und einem Drehlager (4), mittels dem die Maßverkörperung (2) oder die Abtasteinheit (3) drehbar gelagert ist, so dass im Betrieb der Positionsmesseinrichtung (1) die Maßverkörperung (2) und die Abtasteinheit zueinander verdrehbar sind und die Abtasteinheit (3) Ausgangssignale erzeugt, anhand derer sich ein mit der Relativbewegung von Maßverkörperung (2) und Abtasteinheit (3) verbundener Drehwinkel bestimmen lässt, sowie Überwachungsmitteln zur Überwachung des Drehlagers (4) auf das Auftreten von Lagerfehlern. Dabei sind die Überwachungsmittel ausgebildet und vorgesehen, z.B. während eine Relativbewegung der Maßverkörperung (2) bezüglich der Abtasteinheit (3), für eine Mehrzahl unterschiedlicher Relativpositionen der Maßverkörperung (2) bezüglich der Abtasteinheit (3) jeweils mindestens eine Messgröße (A, P) zu erfassen und auszuwerten, um anhand der für mehrere Relativlagen erfassten Messgröße (A, P) Abweichungen von einem Sollverhalten der Messgrößen zu ermitteln.

EP2662666B1


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