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Europäisches Patentamt

SYSTEM AND METHOD FOR CHARACTERIZING SURFACES OF MANUFACTURED PRODUCTS USING SIZE DATA | SYSTEM UND VERFAHREN ZUR CHARAKTERISIERUNG VON OBERFLÄCHEN VON INDUSTRIEPRODUKTEN MITTELS GRÖSSENDATEN | SYSTÈME ET PROCÉDÉ PERMETTANT DE CARACTÉRISER DES SURFACES D'OBJETS MANUFACTURÉS À L'AIDE DE DONNÉES RELATIVES À LA TAILLE

Patentnummer:EP3019823B1
IPC Hauptklasse:G01B000500
Anmelder:
Erfinder:
Anmeldung:07.07.14
Offenlegung:09.07.13
Patenterteilung:12.09.18

Abstract / Hauptanspruch
A system and method for characterizing surfaces includes using a measuring device to take size measurements of a manufactured product. The raw measurement data is transformed from a time-based domain to a frequency-based domain using a mathematical algorithm. The transformed size measurement data is then compared to predetermined limits within comparable frequency bands to characterize the surface of the manufactured product.

La présente invention a trait à un système et à un procédé qui permettent de caractériser des surfaces et qui comprennent un dispositif de mesure conçu pour mesurer la taille d'un produit manufacturé. Les données de mesure brutes sont transformées pour passer d'un domaine temporel à un domaine fréquentiel au moyen d'un algorithme mathématique. Les données de mesure de taille transformées sont ensuite comparées à des limites prédéfinies dans des bandes de fréquences comparables afin de caractériser la surface du produit manufacturé.

EP3019823B1


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