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HIGHLY FAULT-TOLERANT METHOD FOR EVALUATING PHASE SIGNALS | VERFAHREN ZUR AUSWERTUNG VON PHASENSIGNALEN MIT VERVIELFACHTER FEHLERTOLERANZ | PROCEDE POUR ANALYSER DES SIGNAUX DE MISE EN PHASE AVEC UNE TOLERANCE D'ERREUR MULTIPLIEE

Patentnummer:EP1907799B1
IPC Hauptklasse:G01D0005245
Anmelder:Robert Bosch GmbH (0)
Postfach 30 02 20, 70442 Stuttgart, DE
Erfinder:Wenzler, Axel (0)
Dr., 70569, Stuttgart, DE
Anmeldung:08.06.06
Offenlegung:18.07.05
Patenterteilung:19.09.18

Abstract / Hauptanspruch
Es wird ein Verfahren zur eindeutigen Bestimmung einer physikalischen Größe 4 anhand von m Phasenmesswerten Ei mit 1 ≤ i ≤ m beschrieben, bei dem die Phasenmesswerte E i innerhalb eines Eindeutigkeitsbereichs E der physikalischen Größe 4 voneinander verschiedene, ganzzahlige Periodizitäten ni und eine ganzzahlige Periodenzahl-Differenz (a) mit n > 1 aufweisen, wobei zunächst aus den Phasenmesswerten Ei sowie deren Periodizitäten ni ein Wert T mit (b) und (c) berechnet wird, und anschließend innerhalb eines reduzierten Eindeutigkeitsbereichs Ered mit (d) dem Wert T durch eine Zuordnung gemäß (e) mit T Uk für eine jeweilige untere Grenze und TOk für eine jeweilige obere Grenze von T ein Wert V zugeordnet wird, wobei die Zuordnungsintervalle zwischen den oberen (TOk) und den unteren Grenzen (TUk) für T, sowie die Abstände (f) mindestens der Periodenzahl-Differenz n entsprechen, und letztlich zur Bestimmung der physikalischen Größe 4 der Wert V mit den Phasenmesswerten Ei gewichtet aufaddiert wird.

The invention relates to a method for unambiguously determining a physical parameter 4 using m phase-measured values Ei with 1 ≤ i ≤ m, whereby the phase-measured values Ei have different, integer periodicity values ni and an integer periodicity difference (a) with n > 1 within an unambiguous range E of the physical parameter 4. A value T with (b) and (c) is calculated based on the phase-measured values E i and the periodicity values ni thereof, and, within a reduced unambiguous range Ered with (d), a value V is allocated to the value T by allocation according to (e), wherein TUk stands for a respective lower limit and TOk for a respective upper limit of T. The allocation intervals between the upper (TOk) and the lower limits (TUk) for T, as wells as the distances (f) correspond at least to the periodicity difference n. In order to determine the physical parameter 4, value V is added up with the phase-measured values Ei in a weighted manner.

La présente invention concerne un procédé permettant de déterminer de façon univoque une grandeur physique 4 à l'aide de m valeurs de mesure de phase Ei avec 1 ≤ i ≤ m. Les valeurs de mesure de phase Ei présentent des périodicités entières ni différentes les unes des autres dans un domaine d'univalence E de la grandeur physique 4 et une différence de fréquence entière (a) avec n > 1. Une valeur T avec (b) et (c) est d'abord calculée à partir des valeurs de mesure de phase Ei et de leurs périodicités ni, puis, dans un domaine d'univalence réduit Ered avec (d), une valeur V est associée à la valeur T selon une correspondance, conformément à (e) avec T Uk représentant une limite inférieure respective et TOk représentant une limite supérieure respective de T. L'intervalle de correspondance entre la limite supérieure (TOk) et la limite inférieure (TUk) pour T et les intervalles (f) correspondent au moins à la différence de fréquence n. La valeur V est ensuite ajoutée aux valeurs de mesure de phase Ei de manière pondérée, afin de déterminer la grandeur physique 4.

EP1907799B1


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