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Europäisches Patentamt

MEASUREMENT SYSTEM, MEASUREMENT METHOD, AND VISION CHIP | MESSSYSTEM, MESSVERFAHREN UND SICHTCHIP | SYSTEME DE MESURE, PROCEDE DE MESURE ET PUCE DE VISION

Patentnummer:EP3115743B1
IPC Hauptklasse:G01B001125
Anmelder:
Erfinder:
Anmeldung:22.01.15
Offenlegung:06.03.14
Patenterteilung:19.09.18

Abstract / Hauptanspruch
A measurement system (100) includes: a projection apparatus (102) that projects, onto a subject, first pattern light indicating a first pattern projection image including a first pattern image corresponding to a certain bit in gray code obtained by gray coding projection coordinates stipulated by a projection coordinate system, and a second pattern image having the same cycle as the first pattern image, but having a different phase from the first pattern image, following a projection sequence where projections of the first and second pattern images coexist; and at least one imaging apparatus (101) that images the first pattern light and generates an imaged image.

L'invention concerne un système de mesure (100) comportant un dispositif de projection (102) servant à projeter sur un sujet un premier motif lumineux, qui exprime des premières images de motif de projection, y compris des premières images de motif correspondant à un bit spécifique dans un code Gray obtenu par le codage Gray de coordonnées projetées, définies par un système de coordonnées projetées, et des deuxièmes images de motif présentant la même période que les premières images de motif et une phase différente par rapport aux premières images de motif, selon une séquence de projection mélangeant les premières et deuxièmes images de motif ; et au moins un dispositif de photographie (101) servant à photographier le premier motif lumineux projeté sur le sujet et à produire une image photographiée.

EP3115743B1


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