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Europäisches Patentamt

METHOD AND DEVICE FOR THE THREE-DIMENSIONAL CHARACTERISATION OF A SURFACE OF AN OBJECT | VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR DREIDIMENSIONALEN CHARAKTERISIERUNG DER OBERFLÄCHE EINES OBJEKTS | PROCEDE ET DISPOSITIF DE CARACTERISATION EN TROIS DIMENSIONS D'UNE SURFACE D'UN OBJET

Patentnummer:EP3221660B1
IPC Hauptklasse:G01B001124
Anmelder:
Erfinder:
Anmeldung:16.10.15
Offenlegung:21.11.14
Patenterteilung:19.09.18

Abstract / Hauptanspruch
The present invention concerns a method for the three-dimensional characterisation of an object (5), comprising: - acquiring distance data on two separate measurement planes (81, 82), by at least three interferometric distance sensors (71, 72) per measurement plane and for several values of rotation of the object about an axis of rotation (4); and, for each measurement plane, obtaining data representative of a contour line (14) of the object from the distance data; - for one of the measurement planes, acquiring, by an image sensor (151), a three-dimensional image of one face of the object (5) and repeating this image acquisition for several values of rotation of the object (5) about the axis of rotation (4) of same; and assembling various three-dimensional images acquired for this measurement plane (81), so as to obtain three-dimensional data of a contour surface of the object, the assembly comprising a definition of relative positions of the various images by means of the data representative of the contour line (14) contained in this measurement plane (81).

La présente invention concerne un procédé de caractérisation en trois dimensions d'un objet (5), comprenant : - une acquisition de données de distances sur deux plans de mesure (81, 82) distincts, par au moins trois capteurs interférométriques de distance (71, 72) par plan de mesure et pour plusieurs valeurs de rotation de l'objet autour d'un axe de rotation (4); et pour chaque plan de mesure, une obtention de données représentatives d'une ligne de contour (14) de l'objet à partir des données de distances; - pour un des plans de mesure, une acquisition, par un capteur d'image (151), d'une image tridimensionnelle d'une face de l'objet (5) et une réitération de cette acquisition d'image pour plusieurs valeurs de rotation de l'objet (5) autour de son axe de rotation (4); et un assemblage de différentes images tridimensionnelles acquises pour ce plan de mesure (81), de manière à obtenir des données tridimensionnelles d'une surface de contour de l'objet, l'assemblage comprenant une définition de positions relatives des différentes images au moyen des données représentatives de la ligne de contour (14) contenue dans ce plan de mesure (81).

EP3221660B1


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