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Europäisches Patentamt

MEASURING DEVICE | MESSVORRICHTUNG | DISPOSITIF DE MESURE

Patentnummer:EP3153815B1
IPC Hauptklasse:G01B001127
Anmelder:Bridgestone Corporation (0)
10-1, Kyobashi 1-chome, Chuo-ku, Tokyo 104-8340, JP
Erfinder:
Anmeldung:12.05.15
Offenlegung:06.06.14
Patenterteilung:04.07.18

Abstract / Hauptanspruch
This measurement apparatus includes measurement markers (2) disposed on the outer circumferential surface of a drum (3), a band-shaped member (10) being arranged on the outer circumferential surface of the drum (3), at least one measurement sensor (4) that acquires position information on at least a portion of the measurement markers (2), and a calculator that calculates the position of the measurement markers based on measurement information on the measurement markers (2) acquired by the measurement sensor (4) and calculates misalignment between the actual position of the measurement markers (2) measured in advance and the calculated position of the measurement markers (2).

L'invention concerne un dispositif de mesure pourvu de : marqueurs de mesure (2) qui sont disposés sur la surface circonférentielle externe d'un tambour (3) possédant un élément en forme de bande (10) disposé sur la surface circonférentielle externe ; au moins un capteur de mesure (4) qui acquiert des informations de position d'au moins certains des marqueurs de mesure (2) ; et un moyen de calcul, qui calcule les positions des marqueurs de mesure (2) sur la base d'informations de mesure des marqueurs de mesure (2), lesdites informations de mesure ayant été obtenues à l'aide du capteur de mesure (4), et qui calcule le déplacement entre les positions réelles précédemment mesurées des marqueurs de mesure (2) et les positions calculées des marqueurs de mesure (2).

EP3153815B1


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