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Europäisches Patentamt

Verfahren zur Messung eines Messungsziels

Patentnummer:DE102010064640B3
IPC Hauptklasse:G01B001125
Anmelder:
Erfinder:Jeong, Joong-Ki (0)
Seoul, KR
Kim, Min-Young (0)
101-1012 Hyundai Hometown; Banpo4-dong; Seocho-gu, Seoul, KR
Anmeldung:11.05.10
Offenlegung:13.05.09
Patenterteilung:09.05.18

Abstract / Hauptanspruch
Es wird ein Verfahren zum Messen eines Lötbereichs bereitgestellt, das folgende Schritte umfasst: Einstrahlen einer Vielzahl von Farbbeleuchtungen auf eine Leiterplatte zum Erhalt einer Vielzahl von Farbbildern; Erstellen einer Sättigungskarte mittels einer aus den Farbbildern einer jeden Farbe erhaltenen Farbsättigungsinformation; Festlegen eines Lötbereichs in der Sättigungskarte mittels einer aus den Farbbildern einer jeden Farbe erhaltenen Lichtintensitätsinformation; Erzeugen eines Sättigungsmittelwertes für jede Farbe im Lötbereich; Erstellen einer Varianzkarte mittels der Sättigungsinformation für jede Farbe und des Sättigungsmittelwertes für jede Farbe; und Vergleichen eines Varianzwertes auf der Varianzkarte mit einem kritischen Wert zur Erstellung einer Lötkarte, auf der der Lötbereich dargestellt ist, in welchem ein Lot ausgebildet ist.

DE102010064640B3


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