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Europäisches Patentamt

Verfahren zur Messung eines Messobjekts

Patentnummer:DE102010028894B4
IPC Hauptklasse:G01B001125
Anmelder:
Erfinder:Jeong, Joong-Ki (0)
Seoul, KR
Kim, Min-Young (0)
101-1012 Hyundai Hometown; Banpo4-dong; Seocho-gu, Seoul, KR
Anmeldung:11.05.10
Offenlegung:13.05.09
Patenterteilung:24.05.18

Abstract / Hauptanspruch
Verfahren zum Messen eines Messobjekts (10) auf einer Leiterplatte (900) durch Verwenden einer Vorrichtung zur Messung einer dreidimensionalen Form, umfassend:
Erfassen einer dreidimensionalen Höheninformation der Leiterplatte (900) durch Fotografieren der mittels einer ersten Beleuchtungseinheit (300, 400) mit einem Gittermusterlicht beleuchteten Leiterplatte (900);
Bestimmen mittels der erfassten Höheninformation eines ersten Bereichs (AR1) des Messobjektes (10), der auf der Leiterplatte (900) um eine Höhe, die größer als eine oder gleich einer Referenzhöhe (H1) ist, hervorragt;
Erfassen einer Farbinformation der Leiterplatte (900) durch Fotografieren der mittels einer zweiten Beleuchtungseinheit (450) beleuchteten Leiterplatte (900);
Festlegen einer ersten Farbinformation des ersten Bereichs (AR1) anhand der erhaltenen Farbinformation der Leiterplatte (900); und
Bestimmen, ob Farben der ersten Farbinformation auch zu einer zweiten Farbinformation eines vom ersten Bereich verschiedenen zweiten Bereichs (AR4) gehören oder nicht, um zu beurteilen, ob das Messobjekt (10) sowohl im zweiten Bereich (AR4) als auch im ersten Bereich (AR1) existiert, wenn die Farben der ersten Farbinformation als zur zweiten Farbinformation zugehörig bestimmt werden.

DE102010028894B4


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