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Position measuring device and assembly with multiple position measuring devices | Positionsmesseinrichtung und Anordnung mit mehreren Positionsmesseinrichtungen | Dispositif de mesure de position et agencement à plusieurs dispositifs de mesure de position
Patentnummer: | EP2623937B1 |
IPC Hauptklasse: | G01D000526 |
Anmelder: | Dr. Johannes Heidenhain GmbH (0) 83301, Traunreut, DE |
Erfinder: | Holzapfel, Wolfgang (0) Obing, DE Joerger, Ralph (0) Dr., 83278, Traunstein, DE Meissner, Markus (0) , Reitstrasse 22b, 83236 Übersee, DE Musch, Bernhard (0) , Stifterweg 4, 83624 Otterfing, DE |
Anmeldung: | 14.01.13 |
Offenlegung: | 01.02.12 |
Patenterteilung: | 23.05.18 |
Abstract / Hauptanspruch |
Die vorliegende Erfindung betrifft Positionsmesseinrichtungen sowie eine Anordnung mit mehreren Positionsmesseinrichtungen zur Erfassung der Position eines Objektes in mehreren räumlichen Freiheitsgraden, wobei die mehreren optischen Positionsmesseinrichtungen das Objekt aus einer einzigen Antastrichtung abtasten und die Antastrichtung mit einer der beiden Hauptbewegungsachsen zusammenfällt ( Figur 4a). |
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