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Europäisches Patentamt

METHOD AND APPARATUS FOR PROBE TIP DIAMETER CALIBRATION | VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR DURCHMESSERKALIBRIERUNG VON SONDENSPITZEN | PROCÉDÉ ET APPAREIL POUR UN ÉTALONNAGE DE DIAMÈTRE D'EMBOUT DE SONDE

Patentnummer:EP2449336B1
IPC Hauptklasse:G01B002104
Anmelder:
Erfinder:
Anmeldung:29.06.10
Offenlegung:01.07.09
Patenterteilung:30.05.18

Abstract / Hauptanspruch
A method for determining probe tip diameters with improved accuracy and reliability that includes performing a routine for determining probe tip diameter multiple times with the arm of the coordinate measurement machine in different machine positions. Diameter values associated with each of the calibration routines may be combined in a manner that provides more accurate diameter measurements.

L'invention porte sur un procédé pour déterminer des diamètres d'embout de sonde avec une précision et une fiabilité améliorées, lequel procédé comprend la réalisation d'une routine pour déterminer un diamètre d'embout de sonde de multiples fois avec le bras de la machine de mesure de coordonnées dans différentes positions de machine. Les valeurs de diamètre associées à chacune des routines d'étalonnage peuvent être combinées de façon à fournir des mesures de diamètre plus précises.

EP2449336B1


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