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Europäisches Patentamt

Photothermal measuring device for measuring layer thicknesses, method for photothermal measurement | Photothermisches Messgerät zur Messung von Schichtdicken sowie Verfahren zur photothermischen Messung | Dispositif de mesure photo-thermique destiné à mesurer des épaisseurs de couche et procédé de mesure photo-thermique

Patentnummer:EP2975360B1
IPC Hauptklasse:G01B002108
Anmelder:
Erfinder:
Anmeldung:18.07.14
Offenlegung:18.07.14
Patenterteilung:07.03.18

Abstract / Hauptanspruch
Die Erfindung betrifft ein photothermisches Messgerät zur Messung von Schichtdicken, insbesondere von Lackschichtdicken. Das photothermische Messgerät umfasst einen handlichen Messkopf. Das photothermische Messgerät weist eine Anregungslichtquelle zur Erwärmung einer Probe auf. Das photothermische Messgerät umfasst einen Infrarot-Sensor zur Detektion von Wärmestrahlung der erwärmten Probe. Im photothermischen Messgerät ist ein Abstandsmessgerät zur Messung des Abstandes zwischen Messkopf und Probe vorgesehen. Der Messkopf umfasst ein Linsensystem.

EP2975360B1


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