patentverein.de - Patente
Patentethik
Überwachung
Beispielhaft
Trivial
Kurios
Unverständlich
Zurück Original-Dokument
Europäisches Patentamt

DEVICE AND METHOD FOR MEASURING AND ALIGNING A FIRST COMPONENT AND A SECOND COMPONENT IN RELATION TO EACH OTHER | VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM VERMESSEN UND AUSRICHTEN EINER ERSTEN KOMPONENTE UND EINER ZWEITEN KOMPONENTE IN BEZUG AUFEINANDER | DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE MESURE ET D'ALIGNEMENT D'UN PREMIER COMPOSANT ET D'UN SECOND COMPOSANT L'UN PAR RAPPORT À L'AUTRE

Patentnummer:EP2344840B1
IPC Hauptklasse:G01B001127
Anmelder:
Erfinder:
Anmeldung:08.10.09
Offenlegung:10.10.08
Patenterteilung:31.01.18

Abstract / Hauptanspruch
The invention relates to a device (1) for measuring and alignment of a first component (2, 4) and a second component (3, 5) in relation to each other, where the device comprises a first detector unit (6) disposed to be mounted on the first component (2, 4) and a second detector unit (7) disposed to be mounted on the second component (3, 5) as well as a control unit (12) which is connected to the first detector unit (6) and the second detector unit (7). The device (1) comprises a first geometric pattern (16) disposed on the first detector unit (6) and a second geometric pattern disposed on the second detector unit (7). The position of the first geometric pattern (16) can be detected by the second detector unit (7) and the position of the second geometric pattern can be detected by the first detector unit (6). The invention also relates to a method for aligning a first component (2, 4) and a second component (3, 5).

L’invention concerne un dispositif (1) de mesure et d’alignement d’un premier composant (2, 4) et d’un second composant (3, 5) l’un par rapport à l’autre, le dispositif comprenant une première unité détectrice (6) conçue pour être montée sur le premier composant (2, 4) et une seconde unité détectrice (7) conçue pour être montée sur le second composant (3, 5), ainsi qu’une unité de commande (12) connectée à la première unité détectrice (6) et à la seconde unité détectrice (7). Le dispositif (1) comporte un premier motif géométrique (16) disposé sur la première unité détectrice (6) et un second motif géométrique disposé sur la seconde unité détectrice (7). La position du premier motif géométrique (16) peut être détectée par la seconde unité détectrice (7) et la position du second motif géométrique peut être détectée par la première unité détectrice (6). L’invention concerne également un procédé permettant d’aligner un premier composant (2, 4) et un second composant (3, 5).le

EP2344840B1


Kommentare zu diesem Patent schicken Sie bitte an .
Datenschutzerklärung