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Europäisches Patentamt

Optisches Messsystem und optisches Messverfahren

Patentnummer:DE102016105426B4
IPC Hauptklasse:G01B001114
Anmelder:
Erfinder:
Anmeldung:23.03.16
Offenlegung:23.03.16
Patenterteilung:11.01.18

Abstract / Hauptanspruch
Optisches Messsystem (1), mit
einer Signaleinheit (10), welche ausgebildet ist, einen Signallichtstrahl (10a) auf eine zu messende Objektoberfläche (30) auszusenden, und mit
einer optischen Erfassungseinheit (11), welche ausgebildet ist, den von der Objektoberfläche (30) reflektierten Signallichtstrahl (10b) zusammen mit einem umgebenden Objektbereich (11b) zu erfassen,
wobei die optische Erfassungseinheit (11) einen ersten optischen Sensor (12) aufweist, welcher ausgebildet ist, den reflektierten Signallichtstrahl (10b) zusammen mit dem umgebenden Objektbereich (11b) auf einem ersten optischen Pfad (12a) zu erfassen,
wobei die optische Erfassungseinheit (11) ferner einen zweiten optischen Sensor (13) aufweist, welcher ausgebildet ist, den reflektierten Signallichtstrahl (10b) zusammen mit dem umgebenden Objektbereich (11b) auf einem zweiten optischen Pfad (13a) zu erfassen, und
wobei die optische Erfassungseinheit (11) ferner ein optisches Filter (15) aufweist, welches im zweiten optischen Pfad (13a) zwischen der zu messenden Objektoberfläche (30) und dem zweiten optischen Sensor (13) angeordnet und ausgebildet ist, den reflektierten Signallichtstrahl (10b) aus dem zweiten optischen Pfad (13a) herauszufiltern und den den reflektierten Signallichtstrahl (10b) umgebenden Objektbereich (11b) hindurchzulassen,
gekennzeichnet durch
eine Datenverarbeitungseinheit (16), welche ausgebildet ist, erste Bilddaten des ersten optischen Pfads (12a) und zweite Bilddaten des zweiten optischen Pfads (13a) zu erhalten,
wobei die Datenverarbeitungseinheit (16) ferner ausgebildet ist, aus den ersten Bilddaten und aus den zweiten Bilddaten ein Differenzbild zu erzeugen.

DE102016105426B4


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